GB/T 45468-2025 微束分析 岩石微孔隙聚焦离子束-扫描电镜三维成像分析方法
GB/T 45468-2025 Microbeam analysis—FIB-SEM imaging and analysis method for 3D micro-pore structure of rock sample
基本信息
本文件适用于泥岩、页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩和煤岩等岩石50 nm⁓20 μm的微纳米级孔隙分析,其他地质样品参照执行。
发布历史
-
2025年03月
文前页预览
研制信息
- 起草单位:
- 中国石油天然气股份有限公司勘探开发研究院、中国石油天然气股份有限公司规划总院、上海大学、中国科学院地质与地球物理研究所、中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院无锡石油地质研究所
- 起草人:
- 王晓琦、金旭、孙亮、陈文霞、杨继进、吴建国、朱如凯、吴松涛、鲍芳、张琳、丁立华、焦航
- 出版信息:
- 页数:24页 | 字数:31 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS7104099
CCSG.04.
中华人民共和国国家标准
GB/T45468—2025
微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描
电镜三维成像分析方法
Microbeamanalysis—FIB-SEMimagingandanalysismethodfor3Dmicro-pore
structureofrocksample
2025-03-28发布2025-10-01实施
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T45468—2025
目次
前言
…………………………Ⅲ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
方法原理
4…………………2
仪器软件及材料
5、…………………………3
试样制备
6…………………4
分析步骤
7…………………4
数据处理
8…………………6
分析报告
9…………………10
附录资料性页岩试样自动序列切片成像示例
A()……………………12
附录资料性岩石微孔隙聚焦离子束扫描电镜三维成像分析的报告示例
B()-……13
参考文献
……………………16
Ⅰ
GB/T45468—2025
前言
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
。。
本文件由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口
(SAC/TC38)。
本文件起草单位中国石油天然气股份有限公司勘探开发研究院中国石油天然气股份有限公司规
:、
划总院上海大学中国科学院地质与地球物理研究所中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究
、、、
院无锡石油地质研究所
。
本文件主要起草人王晓琦金旭孙亮陈文霞杨继进吴建国朱如凯吴松涛鲍芳张琳丁立华
:、、、、、、、、、、、
焦航
。
Ⅲ
GB/T45468—2025
微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描
电镜三维成像分析方法
1范围
本文件规定了用聚焦离子束扫描电镜对致密岩石微孔隙进行三维成像的方法
-。
本文件适用于泥岩页岩致密碳酸盐岩致密砂岩和煤岩等岩石的微纳米级孔隙
、、、50nm~20μm
分析其他地质样品参照执行
,。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文
。,
件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于
,;,()
本文件
。
微束分析扫描电子显微术术语
GB/T23414
微束分析扫描电镜图像放大倍率校准导则
GB/T27788
微束分析致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析方法
GB/T38531—2020(CT)
聚焦离子束系统分析方法通则
JY/T0583—2020
岩石制片方法
SY/T5913
3术语和定义
和界定的以及下列术语和定义
GB/T23414、GB/T27788、GB/T38531—2020JY/T0583—2020
适用于本文件
。
31
.
聚焦离子束系统focusedionbeamsystemFIB
;
采用聚焦的离子束对试样表面进行轰击并由计算机控制离子束的扫描或加工轨迹步距驻留时
,、、
间和循环次数以实现对材料的成像刻蚀诱导沉积和注入的分析加工系统
,、、。
来源有修改
[:JY/T0583—2020,2.1,]
32
.
聚焦离子束-扫描电镜focusedionbeam-scanningelectronmicroscopeFIB-SEM
;
具有及扫描电子显微成像系统的微纳加工与成像仪器
FIB。
33
.
共聚焦距离coincidedistance
电子束和离子束的交汇点与扫描电镜物镜极靴下表面的距离
。
来源有修改
[:JY/T0583—2020,2.8,]
34
.
气体注入系统gasinjectionsystemGIS
;
用于向试样表面注入某种气体来辅助完成物质沉积与增强刻蚀功能的系统
。
来源有修改
[:JY/T0583—2020,2.6,]
1
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