GB/T 45468-2025 微束分析 岩石微孔隙聚焦离子束-扫描电镜三维成像分析方法

GB/T 45468-2025 Microbeam analysis—FIB-SEM imaging and analysis method for 3D micro-pore structure of rock sample

国家标准 中文简体 即将实施 页数:24页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 45468-2025
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2025-03-28
实施日期
2025-10-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本文件规定了用聚焦离子束扫描电镜对致密岩石微孔隙进行三维成像的方法。
本文件适用于泥岩、页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩和煤岩等岩石50 nm⁓20 μm的微纳米级孔隙分析,其他地质样品参照执行。

发布历史

文前页预览

研制信息

起草单位:
中国石油天然气股份有限公司勘探开发研究院、中国石油天然气股份有限公司规划总院、上海大学、中国科学院地质与地球物理研究所、中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院无锡石油地质研究所
起草人:
王晓琦、金旭、孙亮、陈文霞、杨继进、吴建国、朱如凯、吴松涛、鲍芳、张琳、丁立华、焦航
出版信息:
页数:24页 | 字数:31 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS7104099

CCSG.04.

中华人民共和国国家标准

GB/T45468—2025

微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描

电镜三维成像分析方法

Microbeamanalysis—FIB-SEMimagingandanalysismethodfor3Dmicro-pore

structureofrocksample

2025-03-28发布2025-10-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T45468—2025

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

方法原理

4…………………2

仪器软件及材料

5、…………………………3

试样制备

6…………………4

分析步骤

7…………………4

数据处理

8…………………6

分析报告

9…………………10

附录资料性页岩试样自动序列切片成像示例

A()……………………12

附录资料性岩石微孔隙聚焦离子束扫描电镜三维成像分析的报告示例

B()-……13

参考文献

……………………16

GB/T45468—2025

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC38)。

本文件起草单位中国石油天然气股份有限公司勘探开发研究院中国石油天然气股份有限公司规

:、

划总院上海大学中国科学院地质与地球物理研究所中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究

、、、

院无锡石油地质研究所

本文件主要起草人王晓琦金旭孙亮陈文霞杨继进吴建国朱如凯吴松涛鲍芳张琳丁立华

:、、、、、、、、、、、

焦航

GB/T45468—2025

微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描

电镜三维成像分析方法

1范围

本文件规定了用聚焦离子束扫描电镜对致密岩石微孔隙进行三维成像的方法

-。

本文件适用于泥岩页岩致密碳酸盐岩致密砂岩和煤岩等岩石的微纳米级孔隙

、、、50nm~20μm

分析其他地质样品参照执行

,。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

微束分析扫描电子显微术术语

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微束分析扫描电镜图像放大倍率校准导则

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聚焦离子束系统分析方法通则

JY/T0583—2020

岩石制片方法

SY/T5913

3术语和定义

和界定的以及下列术语和定义

GB/T23414、GB/T27788、GB/T38531—2020JY/T0583—2020

适用于本文件

31

.

聚焦离子束系统focusedionbeamsystemFIB

;

采用聚焦的离子束对试样表面进行轰击并由计算机控制离子束的扫描或加工轨迹步距驻留时

,、、

间和循环次数以实现对材料的成像刻蚀诱导沉积和注入的分析加工系统

,、、。

来源有修改

[:JY/T0583—2020,2.1,]

32

.

聚焦离子束-扫描电镜focusedionbeam-scanningelectronmicroscopeFIB-SEM

;

具有及扫描电子显微成像系统的微纳加工与成像仪器

FIB。

33

.

共聚焦距离coincidedistance

电子束和离子束的交汇点与扫描电镜物镜极靴下表面的距离

来源有修改

[:JY/T0583—2020,2.8,]

34

.

气体注入系统gasinjectionsystemGIS

;

用于向试样表面注入某种气体来辅助完成物质沉积与增强刻蚀功能的系统

来源有修改

[:JY/T0583—2020,2.6,]

1

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