GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语
GB/T 23414-2009 Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Vocabulary
国家标准
中文简体
现行
页数：31页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2009-04-01
实施日期
2009-12-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
本标准定义了扫描电子显微术（SEM）实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（EPMA）、分析电子显微术（AEM）、能谱法（EDX）等〕。
本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（EPMA）、分析电子显微术（AEM）、能谱法（EDX）等〕。
发布历史
-
2009年04月
研制信息
- 起草单位：
- 中国科学院上海硅酸盐研究所
- 起草人：
- 李香庭、曾毅
- 出版信息：
- 页数：31页 | 字数：54 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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中华人民共和国国家标准
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微束分析扫描电子显微术术语
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ＩＳＯ２２４９３２００８ＩＤＴ
２００９０４０１发布２００９１２０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
／—／：
犌犅犜２３４１４２００９犐犛犗２２４９３２００８
目次
前言Ⅰ
引言Ⅱ
１范围１
２缩略语１
３ＳＥＭ物理基础术语１
４ＳＥＭ仪器术语５
５ＳＥＭ成像和图像处理术语１０
６ＳＥＭ图像诠释和分析术语１４
７ＳＥＭ图像放大倍率和分辨率校正及测量术语１６
参考文献１８
中文索引１９
英文索引
定制服务
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