国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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即将实施
译：GB/T 47185-2026 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Calibration procedure of energy scale for elemental analysis by electron energy loss spectroscopy适用范围：本文件描述了在透射电子显微镜或扫描透射电子显微镜中电子能量损失谱的能量步长和能量标尺的校准程序。 本文件适用于进行元素分析之前的电子能量损失谱的校准，校准能量范围在0 eV～3000 eV。 本文件适用于分析薄试样透射电子的电子能量损失谱，不适用于分析块体试样背散射电子的电子能量损失谱。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.50物理化学分析方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2026-02-27 | 实施时间： 2026-09-01收藏 -
即将实施
译：GB/T 47186-2026 Microbeam analysis—Quantitative analysis of rare earth minerals by electron probe microanalyzer适用范围：本文件描述了电子探针测量稀土矿物成分的标样选择、分析测试条件的选择、干扰峰修正、分析步骤、结果处理和检测报告。 本文件适用于稀土矿物的电子探针定量分析，也适用于其他稀土化合物的电子探针定量分析。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.50物理化学分析方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2026-02-27 | 实施时间： 2026-09-01收藏
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现行
译：GB/T 17722-2026 Microbeam analysis—Method for thickness measurement on goldcoating layer by SEM适用范围：本文件描述了用扫描电镜测量各类金制品中金覆盖层厚度的方法。 本文件适用于25 nm~50μm 的金覆盖层厚度的测定。其他厚度金覆盖层的测量参照执行。 注:实际可测量的最小厚度受扫描电镜的图像分辨率、放大倍数等设备性能参数以及试样制备技术、导电性等影响。【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2026-01-28 | 实施时间： 2026-08-01收藏
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现行
译：GB/T 23414-2026 Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Vocabulary适用范围：本文件界定了扫描电子显微术(SEM)在实际应用中使用的术语。包括基础术语和按不同技术内容分类的术语,也包括已经在ISO 23833中定义的术语。 本文件适用于所有有关SEM实际应用中的标准化文件。另外,本文件的某些术语,也适用于相关领域的文件[例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等]。【国际标准分类号(ICS)】 ：01.040.37成像技术 (词汇) 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2026-01-28 | 实施时间： 2026-08-01收藏
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现行
译：GB/T 20726-2025 Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers(EDS)for use with a scanning electron microscope (SEM)or an electron probe microanalyser(EPMA)适用范围：本文件规定了以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪最重要的特性参数。 本文件仅适用于使用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。 本文件规定了与扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)联用的此类能谱仪性能参数的最低要求及核查方法。用于能谱分析的程序,已由ISO 22309[2]和ASTM E1508[3]规范,不在本文件范围之内。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-08-29 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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现行
译：GB/T 46223-2025 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis适用范围：本文件描述了配备电子能量损失谱仪(简称“能损谱仪”,EELS)的透射电子显微镜(TEM)或扫描透射电子显微镜(STEM)中电子能量损失谱(简称“能损谱”)能量分辨率的测定程序。 本文件适用于内置型和后置型的EELS,包括采用并行检测系统和串行检测系统的谱仪。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.50物理化学分析方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2025-08-29 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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现行
译：JB/T 5592-2024 JBT 5592-2024 V-prism refractometer【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2024-10-24 | 实施时间： 2025-05-01收藏
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译：JB/T 7399-2024 Parallel Light Tube, JB/T 7399-2024【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2024-10-24 | 实施时间： 2025-05-01收藏
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译：GB/T 43883-2024 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining the number density of nanoparticles in a metal适用范围：本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。 本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。 本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。 注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。 注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。 注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-04-25 | 实施时间： 2024-11-01收藏
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现行
译：GB/T 43748-2024 Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips适用范围：本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.50物理化学分析方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2024-03-15 | 实施时间： 2024-10-01收藏
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译：GB/T 43610-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy适用范围：本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。 本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。 注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.50物理化学分析方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2023-12-28 | 实施时间： 2024-07-01收藏
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译：GB/T 43087-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials适用范围：本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.50物理化学分析方法 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2023-09-07 | 实施时间： 2024-04-01收藏
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译：T/CSMT-DZ 003-2023 Evaluation method of color analyzer适用范围：本文件规定了色彩分析仪的性能分级要求、测试环境、设备要求、测评方法。 本文件适用于色彩分析仪的分级性能评价。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.20颜色和光的测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2023-03-21 | 实施时间： 2023-04-20收藏
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译：GB/T 42208-2022 Nanotechnologies—Measurement of nanoparticle size in multiphase system—Image method of transmission electron microsopy适用范围：本文件描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法。本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。本文件也适用于在样品制备满足透射电子显微镜观察要求时的胶体和生物组织中纳米颗粒粒径测量。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2022-12-30 | 实施时间： 2023-07-01收藏
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译：T/ZZB 2793-2022 spectroscopic radiometer适用范围：主要技术内容:本文件规定了光谱辐射亮度计的术语和定义、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存和质量承诺。本文件适用于光谱辐射亮度计【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2022-12-08 | 实施时间： 2022-12-31收藏
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译：T/GDCKCJH 070-2022 Determination of Hexachlorobutadiene (HCBD) in Polymer by Gas Chromatography-Mass Spectrometry (GC-MS)适用范围：范围:本文件适用于聚合物中六氯丁二烯(HCBD)的测定; 主要技术内容:本文件规定了聚合物中六氯丁二烯(HCBD)的气相色谱-质谱(GC-MS)联机测定方法【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2022-11-25 | 实施时间： 2022-12-01收藏
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译：T/GDCKCJH 069-2022 Determination of 2,4,6-Tri-tert-butylphenol (2,4,6-TTBP) in polymers by gas chromatography-mass spectrometry (GC-MS)适用范围：范围:本文件适用于聚合物中2,4,6-三叔丁基苯酚(2,4,6-TTBP)的测定; 主要技术内容:本文件规定了聚合物中2,4,6-三叔丁基苯酚(2,4,6-TTBP)的气相色谱-质谱(GC-MS)联机测定方法【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2022-11-25 | 实施时间： 2022-12-01收藏
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译：T/GDCKCJH 068-2022适用范围：范围:本文件适用于离子风机静电消除器类设备的性能检测; 主要技术内容:本文件规定了离子风机静电消除器的术语和定义、性能要求与检测方法【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2022-11-25 | 实施时间： 2022-12-01收藏
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译：GB/T 15246-2022 Microbeam analysis—Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis适用范围：本文件规定了电子探针测量硫化物矿物成分的仪器设备、试样制备、标样、分析测试条件的选择、谱线重叠修正、分析步骤、结果处理和检测报告。本文件适用于在电子束轰击下稳定的硫化物矿物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物等矿物的电子探针定量分析。本文件适用于以电子探针进行的定量分析，也适用于安装了波谱仪的扫描电子显微镜进行的定量分析。【国际标准分类号(ICS)】 ：19.020试验条件和规程综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2022-10-12 | 实施时间： 2023-02-01收藏
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译：T/GDCKCJH 052-2021 Electrical integrated testing instrument for integrating with a collimating sphere mainly has the following performance requirements and testing methods. (Note: This is an open question that requires specific testing methods and requirements, which cannot be answered with general terms like "performance requirements and testing methods". Please provide more specific information to assist me better.)适用范围：范围:本文件适用于配备直径2.0 m以内积分球的光电综合测试仪主要性能检测，其他光电综合测试仪可参考使用; 主要技术内容:本文件规定了配积分球的光电综合测试仪的术语和定义、主要性能要求及检测方法【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2021-12-24 | 实施时间： 2021-12-24收藏
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