国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：JC/T 1085-2008 X-ray fluorescence analyzer for cement【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JC)行业标准-建材 | 发布时间： 2008-06-16 | 实施时间： 2008-12-01收藏 -
被代替
译：GB/T 20726-2006 Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors适用范围：本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-25 | 实施时间： 2007-08-01收藏
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废止
译：JB/T 10573-2006 Toolmaker’s microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2006-07-27 | 实施时间： 2006-10-11收藏
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现行
译：GB/T 20307-2006 General rules for nanometer-scale length measurement by SEM适用范围：本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm～500nm的点或线的间距。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.040长度和角度测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-19 | 实施时间： 2007-02-01收藏
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现行
译：GB/T 20175-2006 Surface chemical analysis—Sputter depth profiling—Optimization using layered system as reference materials适用范围：为使俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱的仪器设定达到深度分辨的优化目的，本标准采用适当的单层和多层膜系参考物质，提供优化溅射深度剖析参数的指南。 特殊多层膜系（如各种掺杂层膜系）的使用不包括在本标准内。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-03-27 | 实施时间： 2006-11-01收藏
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现行
译：GB/T 20176-2006 Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials适用范围：本标准详细说明了用标定的均匀掺杂物质（用注入硼的参考物质校准）确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。它适用于均匀掺杂硼浓度范围从1×10 16 atoms/cm 3~1×10 20 atoms/cm3。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-03-27 | 实施时间： 2006-11-01收藏
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废止
译：JB/T 5482-2004 X-ray crystal orientation apparatus technical specification【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2004-06-17 | 实施时间： 2004-11-01收藏
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废止
译：DB31/T 315-2004 The calibration method for transmission electron microscope magnification【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-DB31)上海市地方标准 | 发布时间： 2004-05-18 | 实施时间： 2004-08-01收藏
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被代替
译：GB/T 19500-2004 General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2004-04-30 | 实施时间： 2004-12-01收藏
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废止
译：GB 7667-2003 The dose of X-rays leakage from electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-11-20 | 实施时间： 2004-05-01收藏
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废止
译：DB31/T 297-2003 Scanning electron microscope calibration method for magnification【国际标准分类号(ICS)】 ：33.100电磁兼容性(EMC) 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-DB31)上海市地方标准 | 发布时间： 2003-10-28 | 实施时间： 2004-01-01收藏
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被代替
译：GB/T 18907-2002 Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180光学和光学测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-12-05 | 实施时间： 2003-05-01收藏
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废止
译：GB/T 15245-2002 Quantitative analysis of rare earth element(REE)oxides by electron probe microanalysis(EPMA)【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 18873-2002 General specification of transmission electron microscope(TEM)—X-ray energy dispersive spectrum(EDS) quantitative microanalysis for thin biological specimens【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15246-2002 Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15244-2002 Quantitative analysis of glass by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 15617-2002 Quantitative analysis of silicate minerals by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 18735-2002 General specification of nanometer thin standard specimen for analytical transmission electron microscopy(AEM/EDS)【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-05-22 | 实施时间： 2002-12-01收藏
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被代替
译：GB 7247.1-2001 Safety of laser products—Part 1:Equipment classification, requirements and user's guide【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2001-11-05 | 实施时间： 2002-05-01收藏
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被代替
译：GB 18151-2000 Laser guards【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2000-07-24 | 实施时间： 2000-12-01收藏
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