GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则

GB/T 20307-2006 General rules for nanometer-scale length measurement by SEM

国家标准 中文简体 现行 页数:16页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 20307-2006
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2006-07-19
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm~500nm的点或线的间距。

发布历史

研制信息

起草单位:
中国科学院地质与地球物理研究所,同济大学,中国科学院化学所,中国地质科学院矿产资源研究所,上海理工大学等
起草人:
张训彪、曾荣树、廖宗廷、卢德生、刘芬、李戎、周剑雄、邓保庆等
出版信息:
页数:16页 | 字数:26 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS37.020.17.040

N33

中华人民共和国国家标准

GB/T20307—2006

纳米级长度的扫描电镜测量方法通则

Generalrulesfornanometer-scalelengthmeasurementbySEM

2006-07-19发布2007-02-01实施

发布

GB/T20307—2006

目次

前言皿

1范围1

2规范性引用文件1

3基本原理1

4标准样品和仪器设备1

5操作方法1

6数据处理3

7测量结果4

附录A(规范性附录)被测长度方向的确认和调节5

附录B(规范性附录)标准样品的扩展7

附录C(规范性附录)长度实测值的不确定度的评定与表示9

附录D(资料性附录)原始记录格式12

附录E(资料性附录)测量报告格式13

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GB/T20307—2006

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本标准的附录A、附录B和附录C为规范性附录,附录D、附录E为资料性附录°

本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。

本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。

本标准主要起草单位:中国科学院地质与地球物理研究所,同济大学,中国科学院化学所,中国地质

科学院矿产资源研究所,上海理工大学等。

本标准主要起草人:张训彪、曾荣树、廖宗廷、卢德生、刘芬、李戎、周剑雄、邓保庆等。

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GB/T20307—2006

纳米级长度的扫描电镜测量方法通则

1范围

本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm~500nm的点或线的

间距。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是

否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。

JJF1059—1999测量不确定度评定与表示

BIPMIECIFCCISOIUPACIUPAPOIML—1993《GuidetotheExpressionofUncertaintyin

Measurement》(测量不确定度表示指南)

3基本原理

用扫描电镜在相同的状态下,获取被测样品和标准样品的二次电子像,然后测量出被测样品和标准

样品图像中的长度。结合标准样品的已知长度,计算出被测样品的长度。

4标准样品和仪器设备

4.1标准样品:首选国家级有证标准样品。其次选用省级以上(包括省级)计量技术机构标定的样品。

4.2扫描电镜:二次电子分辨力优于2nmo

4.3正置立式金相显微镜:放大倍数不小于300倍。

4.4可调样品柱:丁作面的高度可以调节。

4.5图像测量设备:量程不小于图像尺度;读数不确定度可以忽略不计。

5操作方法

5.1被测样品的确认

5.1.1被测长度方向的确认

5.1.1.1对于有方向性的精确测量,需要按照附录A,确认被测长度的方向。

5.1.1.2对于通过统计规律,可以消除倾斜误差和畸变误差的颗粒样品。可以不确认被测长度的方

向,直接进行下步操作。

5.1.1.3对于被测长度方向处于被测平面上的样品。可以不确认被测长度的方向,直接进行下步

操作。

5.1.2估计被测长度值

5.1.2.1将被测样品固定在高度可调的样品柱上。

5.1.2.2用扫描电镜观察被测长度,根据扫描电镜的标称放大倍数(或图像上的标尺),粗略地估计被

测长度值。

5.2选取标准样品

选取标准样品的原则如下:

a)优先选取不确定度小的标准样品。

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GB/T20307—2006

b)优先选取分度值接近被测长度的标准样品。

c)优先选取点间距(或线间距)的标准样品。

d)优先选取标记敏锐的标准样品。

e)对于精确测量,如果标准样品的分度值,大于被测长度的1.5倍,应按照附录B.1进行。

f)如果没有分度值合适的标准样品,应按照附录B.2,扩展标准样品。

5.3标准样品的确认

为了使用方便,扫描电镜的标准样品一般是固定在高度可调的圆柱体的顶面上,其标准长度垂直于

柱体,而且可以方便地判断长度的方向。如图1所示。

图1高度可调的样品柱

5.4样品的初步调节

5.4.1将标准样品柱置于正置立式金相显微镜的样品台上,调节金相显微镜,使标准样品的T作面

正焦。

5.4.2保持金相显微镜状态不变,从金相显微镜的样品台上取下标准样品柱,换上被测样品柱。然后

调节被测样品柱的高度,使其工作面正焦。

5.5样品的安装

将标准样品和被测样品同时、同高度固定在扫描电镜的样品台上。如果方便,应使标准样品和被测

样品的长度方向接近平行。

注:只要能保证T.作距离和样品倾斜的不确定度可以忽略不计,样品的初步调节利安装,可以根据具体条件,灵活

应用。

5.6获取标准样品和被测样品的二次电子像

5.6.1将扫描电镜调整到最佳工作状态。一般要求是:

a)样品的安装要牢固。

b)尽可能消除电子束的像散。

c)选取合适的电子加速电压。

d)选取合适的电子束的电流。

e)选取合适的图像反差,使长度标记敏锐。

f)使图像准确正焦。

5.6.2将扫描电镜的样品台的倾斜角度,调整到零位。

5.6.3选取合适的放大倍数。

显示屏上样品放大的图像中,被测的长度应尽可能大一些,但不要超过视场的五分之四,由像素产

生的不确定度,应可以忽略不计。

5.6.4平移样品台,使标准样品分度的图像处于视场的中部,通过调节透镜电流聚焦后,获取标准样品

分度的图像。

2

GB/T20307—2006

5.6.5在不改变扫描电镜状态的其他参数的条件下,紧接着将被测样品长度图像平移到视场的中部。

旋转并平移样品台,使视场中被测长度方向与标准样品的分度方向相同,且处于视场中部,获取被测样

品长度的图像(如果由于透镜电流漂移而失焦,可以微调透镜电流聚焦)。

5.7放大图像的测量

用图像测量设备直接测量放大的图像。可用的测量设备有:比长仪、扫描电镜自备的测量程序、图

像分析软件等。但要求图像测量设备的读数不确定度,可以忽略不计。

5.7.1标准样品放大图像的测量

5.7.1.1标准样品放大图像中长度的第/次的实测值S,,按式(1)计算:

Si=Ia,—b,|(1)

式中:

——第一个标记点的第i次读数值。

b,——第二个标记点的第i次读数值。

5.7.1.2标准样品放大图像中长度的实测平均值A,按式(2)计算:

(2)

ni=1

式中:

"——测量次数。

5.7.2被测样品放大图像的测量

5.7.2.1被测样品放大图像中长度的第j次的实测值H’,按式(3)计算:

=\Cj—d)|(3)

式中:

G——第一个标记点的第J次读数值。

心——第二个标记点的第j次读数值。

5.7.2.2被测样品放大图像中长度的实测平均值B,按式(4)计算:

B=比(4)

式中:

«——测量次数。

6数据处理

6.1长度实测值L(nm),按式(5)计算:

TB

L=h~(5)

式中:

A——标准样品放大图像中长度的实测平均值,单位为毫米(mm)0

B——被测样品放大图像中长度的实测平均值,单位为毫米(mm)0

h标准样品中长度的标定值,单位为纳米(nm)。

6.2长度实测值的标准不确定度g(nm),按式(6)计算:

L2

(6)

式中:

©——标准样品的标准不确定度,单位为纳米(nm)。

h标准样品中长度标定值,单位为

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