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GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则

GB/T 20726-2006 Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

国家标准 中文简体 被代替 已被新标准代替，建议下载标准 GB/T 20726-2025 | 页数：10页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 20726-2006
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
N33 电子光学与其他物理光学仪器
国际标准分类号（ICS）
71.040.99 有关分析化学的其他标准
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。

发布历史

文前页预览

GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则-第1页
GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则-第2页
GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则-第3页
GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则-第4页

研制信息

起草单位：
中国科学院地质与地球物理研究所
起草人：
曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光、范光
出版信息：
页数：10页 | 字数：14 千字 | 开本： 大16开

内容描述

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    ISO 15632:2002
    ISO 15632:2002

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