GB/T 17366-2025 微束分析 电子探针显微分析 矿物岩石试样的制备方法

GB/T 17366-2025 Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Methods of specimen preparation for minerals and rocks

国家标准 中文简体 即将实施 页数:12页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 17366-2025
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2025-08-29
实施日期
2026-03-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本文件描述了各类矿物、岩石等地质样品的电子探针显微分析试样的通用制备方法。
本文件适用于矿物、岩石的电子探针显微分析试样的制备。

文前页预览

研制信息

起草单位:
中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院地质与地球物理研究所、核工业北京地质研究院、首钢集团有限公司、广东省科学院工业分析检测中心、中国科学院化学研究所
起草人:
陈振宇、毛骞、范光、鞠新华、伍超群、王岩华、周剑雄
出版信息:
页数:12页 | 字数:10 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS7104099

CCSN.53.

中华人民共和国国家标准

GB/T17366—2025

代替GB/T17366—1998

微束分析电子探针显微分析

矿物岩石试样的制备方法

Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—

Methodsofspecimenpreparationformineralsandrocks

2025-08-29发布2026-03-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T17366—2025

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

仪器设备和材料

4…………………………1

试样的基本要求

5…………………………2

试样的制备方法

6…………………………2

试样的镀膜

7………………3

参考文献

………………………4

GB/T17366—2025

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

本文件代替矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法与

GB/T17366—1998《》,GB/T17366—

相比除结构调整和编辑性改动外主要技术变化如下

1998,,:

删除了方法提要见年版的第章

a)“”(19983);

增加了术语和定义见第章

b)(3);

更改了对仪器设备和材料的要求见第章年版的第章

c)(4,19984);

更改了块状样品颗粒样品微细粉末样品的制备和分析位置的标记见年版

d)、、(6.2~6.5,1998

的和第章

6.1~6.47);

更改了试样的镀膜见第章年版的第章

e)(7,19988)。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC38)。

本文件起草单位中国地质科学院矿产资源研究所中国科学院地质与地球物理研究所核工业

:、、

北京地质研究院首钢集团有限公司广东省科学院工业分析检测中心中国科学院化学研究所

、、、。

本文件主要起草人陈振宇毛骞范光鞠新华伍超群王岩华周剑雄

:、、、、、、。

本文件于年首次发布本次为第一次修订

1998,。

GB/T17366—2025

微束分析电子探针显微分析

矿物岩石试样的制备方法

1范围

本文件描述了各类矿物岩石等地质样品的电子探针显微分析试样的通用制备方法

、。

本文件适用于矿物岩石的电子探针显微分析试样的制备

、。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

微束分析用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法

GB/T41074

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

31

.

光片polishedsection

将块状岩石或矿石样品切割磨制成一定大小单面抛光能在反射光下显微观察的试样

、、。

注光片一般适用于不透明金属矿物较多的样品

:。

32

.

光薄片thinsection

将块状岩石或矿石样品切割磨制成一定大小双面抛光能在透射光和反射光下显微观察的试样

、、。

注光薄片一般适用于以透明矿物为主的岩石样品磨制厚度根据显微镜观察需要一般为

:,30μm~100μm。

33

.

砂光片sandpolishedsectionsandpolishedmount

;

将颗粒样品镶嵌后磨平抛光的试样

、。

注砂光片一般针对毫米级及以下的颗粒样品有时厘米级不规则块状样品也镶嵌后制成规整的砂光片

:,。

4仪器设备和材料

41仪器设备

.

411真空镀膜仪

..。

412超声波清洗装置

..。

413光学显微镜

..。

414切片机切割机

..()。

415磨片机

..。

1

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