适用范围：本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM）获取纳米级核壳材料水平投影图形并测量其壳层厚度（10 nm~100 nm）的方法。 本文件适用于TEM/STEM记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散X射线谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）记录的元素面分布图测量壳层厚度。适用测量颗粒核的直径范围为10 nm~1  μm。 本文件不适用于水平投影图形Z方向大于X方向、Y方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的颗粒，例如类似海胆状的纳米颗粒。 注：主要原因是当被测量壳层厚度波动大于最小截面直径20%时，本文件的不确定度将明显增大。

适用范围：本文件描述了在透射电子显微镜或扫描透射电子显微镜中电子能量损失谱的能量步长和能量标尺的校准程序。 本文件适用于进行元素分析之前的电子能量损失谱的校准，校准能量范围在0 eV～3000 eV。 本文件适用于分析薄试样透射电子的电子能量损失谱，不适用于分析块体试样背散射电子的电子能量损失谱。

适用范围：本文件描述了电子探针测量稀土矿物成分的标样选择、分析测试条件的选择、干扰峰修正、分析步骤、结果处理和检测报告。 本文件适用于稀土矿物的电子探针定量分析，也适用于其他稀土化合物的电子探针定量分析。

适用范围：本文件描述了一种通过高温加热去除杂质和表面活性剂配体后测量量子点分散液中量子点质量和质量浓度的方法。

适用范围：本文件描述了配备电子能量损失谱仪(简称“能损谱仪”,EELS)的透射电子显微镜(TEM)或扫描透射电子显微镜(STEM)中电子能量损失谱(简称“能损谱”)能量分辨率的测定程序。 本文件适用于内置型和后置型的EELS,包括采用并行检测系统和串行检测系统的谱仪。

适用范围：本文件提供了对电子探针显微分析仪（EPMA）进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序，确认仪器状态正常，或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。 本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作（例如峰干扰）的能力，有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。 本文件适用于电子探针和其他波谱仪（WDS）系统，该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪（EDS）进行的元素分析。

适用范围：本文件描述了测定纳米多孔材料储氢量的静态容量气体吸附的方法。本文件适用于以物理吸附储氢的碳材料、沸石、金属有机框架材料、多孔有机聚合物等纳米多孔材料储氢量的测定。其他多孔材料储氢量的测定也可参照使用。

适用范围：本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。

适用范围：本文件描述了亚纳米厚度石墨烯薄膜的霍尔器件样品制备与载流子迁移率及方块电阻测量的原理、设备、器件制备及测量过程、计算方法、不确定度的分析与计算，以及测量报告等。 本文件适用于长度和宽度均大于100 μm的亚纳米厚度石墨烯薄膜的载流子迁移率（

适用范围：本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。 本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。 注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。

适用范围：本文件描述了利用拉曼光谱法测量石墨烯缺陷浓度的方法，包括原理、仪器参数要求、样品准备、试验步骤及数据分析与处理。本文件适用于横向尺寸不小于2 μm、物性均匀、表面洁净的单层石墨烯的点缺陷浓度测量。

适用范围：本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。

适用范围：本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。

适用范围：本文件规定了熔模铸造用中温模料的滴点、冻凝点、线收缩率、软化点、旋转黏度、灰分等物理性能的试验方法。 本文件适用于熔模铸造用中温模料物理性能的测试。

适用范围：本文件规定了熔模铸造用中温模料的抗弯强度、表面硬度、热变形量和热稳定性、脱水性、表面凹陷或缩陷、抗蠕变性等使用性能的试验方法。 本文件适用于熔模铸造用中温模料的使用性能测试。

适用范围：本文件描述了用氩气吸附静态容量法测定石墨烯粉体比表面积的方法。 本文件适用于测定具有Ⅱ型(分散的、无孔或大孔)和Ⅳ型(介孔，孔径2 nm~50 nm)吸附等温线的石墨烯粉体的比表面积。含有少量微孔、吸附等温线呈现出Ⅱ型和Ⅰ型相结合或Ⅳ型和Ⅰ型相结合的石墨烯粉体的比表面积测定亦适用。其他类型的碳基纳米材料，如碳纳米管、碳纤维、多孔炭等比表面积的测定参照使用。

适用范围：本文件描述了用电感耦合等离子体质谱技术测定石墨烯粉体中金属杂质含量的方法。本文件适用于石墨烯粉体中金属杂质的测定。其他碳基纳米材料，如碳纳米管、碳纤维、多孔炭等所含金属杂质的测定参照执行。

适用范围：本文件描述了用阿贝折射仪和全自动折光率仪测定液体化工产品折光率的方法。本文件适用于透明或半透明、温度范围在20 ℃～60 ℃、折光率范围在1.300 0～1.700 0的液体化工产品的测定。

适用范围：本文件描述了用自动电位滴定仪测定防腐木材和木材防腐剂中季铵盐方法的样品制备、仪器设备、试剂与溶液配制、测定等。本文件适用于测定防腐木材和木材防腐剂中季铵盐的含量。

适用范围：本文件规定了采用分光光度法测定生产环境空气中纳米二氧化钛粉尘浓度的方法，包括样品采集与处理、测试、数据处理、结果计算。本文件适用于使用分光光度计检测湿法采集到的纳米二氧化钛粉尘浓度。其他环境空气中纳米二氧化钛浓度的测定可参考使用本文件。