GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
GB/T 43088-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals
国家标准
中文简体
现行
页数：24页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
发布历史
-
2023年09月
研制信息
- 起草单位：
- 首钢集团有限公司、国标(北京)检验认证有限公司
- 起草人：
- 孟杨、鞠新华、朱国森、付新、马通达、崔桂彬、史学星、闫贺、王泽鹏、王雅晴、严春莲
- 出版信息：
- 页数：24页 | 字数：48 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS71.040.50
CCSG04
中华人民共和国国家标准
/—
GBT430882023
微束分析分析电子显微术金属薄晶体
试样中位错密度的测定方法
——
MicrobeamanalsisAnalticalelectronmicroscoMeasurement
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2023-09-07发布2024-04-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—
GBT430882023
目次
前言…………………………Ⅲ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3术语和定义………………1
4符号………………………2
5方法概述…………………3
6设备………………………3
7试样………………………4
8测定方法…………………4
9数据处理…………………6
10测定结果的
定制服务
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