GB/T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语
GB/T 40300-2021 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary
基本信息
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外,本文件的某些部分适用于相关领域(如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。
发布历史
-
2021年08月
研制信息
- 起草单位:
- 北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所
- 起草人:
- 柳得橹、汤斌兵、贺连龙
- 出版信息:
- 页数:34页 | 字数:66 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS71.040.40
CCSG04
中华人民共和国国家标准
/—
GBT403002021
微束分析分析电子显微学术语
——
MicrobeamanalsisAnalticalelectronmicroscoVocabular
yypyy
(:,)
ISO159322013MOD
2021-08-20发布2022-03-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—
GBT403002021
目次
前言…………………………Ⅰ
引言…………………………Ⅱ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3缩略语……………………1
4分析电子显微学物理基础术语…………2
5分析电子显微镜仪器术语………………5
6分析电子显微术试样制备常用术语……………………10
7分析电子显微术成像和像处理术语……………………11
8分析电子显微术像诠释和分析术语……………………13
9分析电子显微术像放大倍率和分辨率测量与校准的术语……………16
10分析电子显微术电子衍射的术语……………………18
参考文献……………………20
索引…………………………21
/—
GBT403002021
前言
/—《:》
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规
GBT1.120201
定起草。
本文件修改采用:《微束分析分析电子显微学术语》。
ISO159322013
:,。
本文件与相比增加了第章规范性引用文件
ISO1593220132
本文件做了以下编辑性修改:
———,、、……、、、……;
章编号改为章编号分别修改为
011238345610
———,,;
与重复本文件删去了将改为
9.95.2.19.99.109.9
———,;
在参考文献中用与国际文件有一致性对应关系的我国文件代替国际文件调整了文献顺序
———增加了索引。
:,:
本文件对ISO159322013有误之处进行了更正主要更正如下
———“”“”;
更正了缩略语和的定义
EDSEDX
———“”;
缩略语EPMA的定义增加了显微分析仪
———“”;
缩略语SEM的定义增加了扫描电子显微镜
———“”;
4.2.1删掉了定义中动量守恒的含义
———“”“
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