GB/T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语

GB/T 40300-2021 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary

国家标准 中文简体 现行 页数:34页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 40300-2021
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2021-08-20
实施日期
2022-03-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语,按照系统顺序中各自的层次分类。
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外,本文件的某些部分适用于相关领域(如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。

发布历史

研制信息

起草单位:
北京科技大学、南昌大学、中国科学院金属研究所
起草人:
柳得橹、汤斌兵、贺连龙
出版信息:
页数:34页 | 字数:66 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS71.040.40

CCSG04

中华人民共和国国家标准

/—

GBT403002021

微束分析分析电子显微学术语

——

MicrobeamanalsisAnalticalelectronmicroscoVocabular

yypyy

(:,)

ISO159322013MOD

2021-08-20发布2022-03-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT403002021

目次

前言…………………………Ⅰ

引言…………………………Ⅱ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3缩略语……………………1

4分析电子显微学物理基础术语…………2

5分析电子显微镜仪器术语………………5

6分析电子显微术试样制备常用术语……………………10

7分析电子显微术成像和像处理术语……………………11

8分析电子显微术像诠释和分析术语……………………13

9分析电子显微术像放大倍率和分辨率测量与校准的术语……………16

10分析电子显微术电子衍射的术语……………………18

参考文献……………………20

索引…………………………21

/—

GBT403002021

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规

GBT1.120201

定起草。

本文件修改采用:《微束分析分析电子显微学术语》。

ISO159322013

:,。

本文件与相比增加了第章规范性引用文件

ISO1593220132

本文件做了以下编辑性修改:

———,、、……、、、……;

章编号改为章编号分别修改为

011238345610

———,,;

与重复本文件删去了将改为

9.95.2.19.99.109.9

———,;

在参考文献中用与国际文件有一致性对应关系的我国文件代替国际文件调整了文献顺序

———增加了索引。

:,:

本文件对ISO159322013有误之处进行了更正主要更正如下

———“”“”;

更正了缩略语和的定义

EDSEDX

———“”;

缩略语EPMA的定义增加了显微分析仪

———“”;

缩略语SEM的定义增加了扫描电子显微镜

———“”;

4.2.1删掉了定义中动量守恒的含义

———“”“

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