-
现行
译:T/CBPIA 0012-2025
适用范围:主要技术内容:本文件主体内容包括:范围,规范性引用文件,术语和定义,试剂和材料,仪器和设备,溶液及样品制备,性能测定方法,检测报告。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-07-03 | 实施时间: 2025-08-03
-
即将实施
译:GB/T 45770-2025 Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
适用范围:本文件规定了用于表征AFM探针形状,特别是柄和近尖端轮廓的两种方法。这两种方法分别通过将AFM探针尖轮廓投影到指定平面上,或者在确定的操作条件下将探针柄的特征投影到该平面上来实现。其中,后一种方法可以给出探针用于狭窄沟槽和类似轮廓结构的深度测量时的有效性。本文件适用于半径大于5u0的探针,其中u0是用于表征探针的参考样品脊形结构宽度的不确定度。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 45772-2025 Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Procedures for identifying,estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy
适用范围:本文件规定了X射线光电子能谱(XPS)分析中,由X射线辐照导致试样元素组成或化学态的非预期性损伤的识别、评估和校正方法的要求。
本文件仅适用于X射线引起的非预期性损伤,导致光电子谱峰强度的降低或增加小于30%。本文件不涉及不同类型材料之间的比较,也不涉及发生损伤的机制、深度或化学性质。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 45773-2025 Surface chemical analysis—Near real-time information from the X-ray photoelectron spectroscopy survey scan—Rules for identification of,and correction for,surface contamination by carbon-containing compounds
适用范围:本文件描述了对材料薄膜进行协助表面分析的方法,这些薄膜不含有碳化合物作为预期成分,但在全扫描谱中观察到C 1s峰。这些薄膜可通过有氧或电化学氧化在金属和合金上生成,也可沉积在惰性基底上的。所述程序不适用于在基底上颗粒的不连续沉积。除此之外,还提供了一个可从含碳的表面污染物中识别C 1s信号的简单程序。当C 1s峰被确定为来自于外来的覆盖层时,从全谱中得出的成分可针对其影响进行校正。建议的程序以“如果-则”格式的简单规则结构形式所提供,目的是让它们所包含的信息可被数据系统中的自动化程序所利用。所提供的规则仅利用从XPS全扫描(谱)中检索的信息。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 45769-2025 Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
适用范围:本文件描述了在常规分析条件下从特定样品获得的X射线光电子能谱(XPS)数据中评估元素检测限并给出报告的程序。本文件适用于均匀材料,对XPS信息深度内元素深度分布不均匀的材料不适用。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 42658.3-2025 Surface chemical analysis—Sample handling,preparation and mounting—Part 3:Biomaterials
适用范围:本文件提供了在表面化学分析前生物材料样品的处理、安装和表面处理方法的指导。其目的是帮助分析人员了解在进行分析时,使用如下技术对特殊样品处理所需的条件:
——X射线光电子能谱(XPS)或化学分析电子能谱 (ESCA);
——二次离子质谱 (SIMS);
——俄歇电子能谱(AES)。
所提出的方法也适用于其他对表面组成分析灵敏的技术,如:
——衰减全反射傅里叶变换红外光谱 (ATR-FTIR);
——全反射X射线荧光光谱(TXRF);
——紫外光电子能谱 (UPS)。
本文件阐述了所用真空条件的影响和检测前后及植入前后的污染问题,以及在检测过程中与污染相关的问题。这里的生物材料包括硬质和软质,如金属、陶瓷、支架和聚合物。
本文件不包括诸如细胞、组织和生物体等活体生物材料。本文件中不涵盖的其他相关主题还包括电子显微镜或光学显微镜的样品制备。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 45768-2025 Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
适用范围:本文件描述了在单离子计数飞行时间二次离子质谱仪中,通过测量基于聚四氟乙烯(PTFE)质谱中的同位素比值,从而确定强度标线性偏差可接受限的最大计数率的方法。本文件还包括校正强度非线性的方法,强度的非线性是由在死时间内到达微通道板(MCP)或闪烁体和光电倍增器随后进入时间数字转换器(TDC)的二次离子强度损失引起的。该校正可将95%线性的强度范围增加到50倍以上,因此对于那些已证实相关校正公式有效的质谱仪,可以采用更高的最大计数率。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 20175-2025 Surface chemical analysis—Sputter depth profiling—Optimization using layered systems as reference materials
适用范围:本文件提供了使用适当的单层和多层参考物质优化溅射深度分析参数的指导和要求,以便优化俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱中的仪器设置,实现最佳深度分辨。
本文件不涵盖特殊多层膜系(例如δ掺杂层)的使用。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 32996-2025 Surface chemical analysis—Analysis of metal oxide films by glow discharge optical emission spectrometry
适用范围:本文件描述了利用辉光放电发射光谱测定金属氧化物膜厚度、单位面积质量和金属氧化物膜化学组成的方法。
本方法适用于测定金属上厚度为5 nm~10 000 nm的氧化物膜,氧化物的金属元素包括铁、铬、镍、铜、钛、硅、钼、锌、镁、锰、锆和铝中的一种或多种。其他可测元素还包括氧、碳、氮、氢、磷和硫。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 19500-2025 Surface chemical analysis—General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method
适用范围:本文件规定了X射线光电子能谱(XPS)的一般表面分析方法的通用要求。
本文件界定了XPS相关的表面化学分析术语。
本文件适用于X射线光电子能谱仪。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
即将实施
译:GB/T 20176-2025 Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
适用范围:本文件详细说明了用标定的均匀掺杂物质(用注入硼的参考物质校准)确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。它适用于均匀掺杂硼浓度范围从1×1016 atoms/cm3~1×1020 atoms/cm3。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-06-30 | 实施时间: 2026-01-01
-
现行
译:T/GAIA 033-2025
适用范围:主要技术内容:本文件规定了在计算机上存储扫描探针显微镜/扫描探针显微术(SPM)数据的一种格式
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-05-28 | 实施时间: 2025-06-04
-
现行
译:DB13/T 6137-2025 The detection of impurities in high purity tungsten hexafluoride
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G15/19有机化工原料
发布单位或类别:(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间: 2025-05-27 | 实施时间: 2025-06-03
-
现行
译:DB13/T 6140-2025 Determination of impurities in carbonyl fluoride
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G15/19有机化工原料
发布单位或类别:(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间: 2025-05-27 | 实施时间: 2025-06-03
-
现行
译:DB13/T 6138-2025 Detection of impurities in high purity trifluoromethane
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G15/19有机化工原料
发布单位或类别:(CN-DB13)河北省地方标准 | 发布时间: 2025-05-27 | 实施时间: 2025-06-03
-
现行
译:T/CIET 1166-2025
适用范围:范围:本文件规定了膜分离设备的分类、测试方法、测试报告。
本文件适用于以压力差、浓度差、电位差等为驱动力,利用膜的选择透过性进行分离、提纯、浓缩等操作的膜分离设备;
主要技术内容:本文件规定了膜分离设备的分类、测试方法、测试报告。本文件适用于以压力差、浓度差、电位差等为驱动力,利用膜的选择透过性进行分离、提纯、浓缩等操作的膜分离设备
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-04-16 | 实施时间: 2025-04-16
-
现行
译:HG/T 6411-2025
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-HG)行业标准-化工 | 发布时间: 2025-04-10 | 实施时间: 2025-11-01
-
即将实施
译:GB/T 45459-2025 Microbeam analysis—Focused ion beam—Preparation of TEM specimens
适用范围:本文件规定了聚焦离子束法制备透射电镜试样的仪器设备、环境与样品要求、试样制备和试验记录。
本文件适用于金属材料,半导体、矿物等无机非金属材料及高分子材料等固态材料的透射电镜试样制备。
本文件适用于各种类型的聚焦离子束场发射扫描电镜双束系统,单束系统和多束系统参照执行。
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :G04基础标准与通用方法
发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2025-03-28 | 实施时间: 2025-10-01
-
现行
译:T/XMSSAL 0135-2024 Determination of 12 pesticide residues in plant-based foods by liquid chromatography-mass spectrometry
适用范围:主要技术内容:本文件规定了植物源性食品中12种农药残留量的液相色谱-质谱联用测定方法。本文件适用于蔬菜、水果、食用菌等植物源性食品中联苯吡菌胺、环氧虫啶、乙唑螨腈、多果定、丁虫腈、氟醚菌酰胺、氟吡呋喃酮、氯氟醚菌唑、哌虫啶、四氯虫酰胺、氯啶菌酯、嗪氨灵残留量的测定,其他植物源性食品可参照执行
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-02-08 | 实施时间: 2025-02-08
-
现行
译:T/XMSSAL 0141-2024 The liquid chromatography-tandem mass spectrometry method for the determination of nine lipophilic algal toxins in seafood
适用范围:主要技术内容:本文件第一篇规定了海产品中7种脂溶性藻毒素的液相色谱-串联质谱测定方法。本文件第一篇适用于双壳类、腹足类、甲壳类等海产品中扇贝毒素PTX2、原多甲藻酸毒素AZA1、AZA2、AZA3、环亚胺毒素GYM、短裸甲藻毒素BTX2、BTX3的测定。本文件第二篇规定了海产品中2种脂溶性藻毒素的液相色谱-串联质谱测定方法。本文件第二篇适用于双壳类、腹足类、甲壳类等海产品中虾夷扇贝毒素YTX、hYTX的测定
【国际标准分类号(ICS)】 :71.040.40化学分析
【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2025-01-24 | 实施时间: 2025-01-24