GB/Z 129-2026 表面化学分析 电子能谱 纳米颗粒包覆层厚度和组成的测量

ICS7104040

CCSG.04.

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

GB/Z129—2026/ISO/TR231732021

:

表面化学分析电子能谱纳米颗粒

包覆层厚度和组成的测量

Surfacechemicalanalysis—Electronspectroscopies—Measurementof

thethicknessandcompositionofnanoparticlecoatings

ISO/TR231732021IDT

(:,)

2026-01-28发布

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/Z129—2026/ISO/TR231732021

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

符号和缩略语

4……………1

概述

5………………………2

6XPS………………………3

概述

6.1…………………3

包覆层厚度测量

6.2……………………4

纳米颗粒包覆层厚度

6.3………………4

数值方法

6.4……………5

描述性公式

6.5…………………………7

建模与模拟软件

6.6……………………9

方法比较

6.7……………9

非弹性本底分析

6.8……………………12

元素组成

6.9……………13

可变激发能量的

6.10XPS……………15

近常压

6.11XPS(NAP-XPS)…………19

7AES……………………22

概述

7.1…………………22

覆盖层厚度测量

7.2……………………22

补充技术

8…………………25

与理想情况的偏差

9………………………27

概述

9.1…………………27

多层包覆

9.2……………28

其他非理想情况

9.3……………………29

附录资料性纳米颗粒数据建模示例脚本

A()XPS…………………33

参考文献

……………………35

Ⅰ

GB/Z129—2026/ISO/TR231732021

:

前言

本文件为报告类指导性技术文件

。

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件等同采用表面化学分析电子能谱纳米颗粒包覆层厚度和组成的

ISO/TR23173:2021《

测量

》。

本文件做了下列最小限度的编辑性改动

:

更改了描述性公式中应用方法步骤所引用公式的编号见

a)“”d)(6.5);

删除了参考文献中与第条重复的第条并对正文中的相关引用也做了更改

b)“”[25][35],。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国表面化学分析标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC608)。

本文件起草单位中国科学院化学研究所清华大学中石化石油化工科学研究院有限公司国家纳

:、、、

米科学中心

。

本文件主要起草人赵志娟姚文清邱丽美徐鹏章小余刘芬

:、、、、、。

Ⅲ

GB/Z129—2026/ISO/TR231732021

:

引言

近年来纳米颗粒在催化医药能源光电器件和化妆品等广泛的应用领域得到了越来越多的开发

,、、、

和使用[1]~[7]特别是具有某种形式包覆层的纳米颗粒其包覆层无论是通过设计还是由于非预期的污

。,

染或氧化等过程而存在是最常见的研究和应用对象[8]~[11]由于这种材料的大部分原子位于表面或

,。

界面因此纳米颗粒表征的一个重要部分是表面性质的测量对于包覆的纳米颗粒包覆层的厚度和组

,。,

成具有决定其功能特性的重要作用并界定颗粒与环境的相互作用为了实现所需的性能许多应用要

,。,

求纳米颗粒具有特殊设计的包覆层纳米颗粒表面组成与包覆层厚度的测量充满挑战由于电子能谱

。,

具有高的表面灵敏度成熟的物理学原理且方便易得因此是非常合适的选择此类测量对样品类型和

、,。

条件有很大的依赖性关于表面化学分析中纳米颗粒的样品处理和来源见参考文献有关纳米结

,[12]。

构材料表面化学分析所面临的挑战在参考文献中进行了概述

[13]。

Ⅳ

GB/Z129—2026/ISO/TR231732021

:

表面化学分析电子能谱纳米颗粒

包覆层厚度和组成的测量

1范围

本文件描述了使用电子能谱技术确定核壳纳米颗粒包括一些变体和非理想形态包覆层厚度

“-”()

和化学组成的方法明确了每种方法的假设挑战和不确定性本文件还描述了电子能谱用于纳米颗

。、。

粒样品常规分析的规程和问题特别是它们对包覆层厚度测量的重要性

,。

本文件重点介绍了电子能谱技术的使用特别是射线光电子能谱俄歇电子能谱和

,X(XPS)、(AES)

基于同步辐射的方法这些方法不能提供准确分析所需的所有信息因此本文件概述了一些附加的分

。,,

析方法在一定程度上有助于解释电子能谱数据

,。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

表面化学分析词汇第部分通用术语及谱学术语

ISO18115-11:(Surfacechemicalanalysis—

Vocabulary—Part1:Generaltermsandtermsusedinspectroscopy)

注表面化学分析词汇第部分通用术语及谱学术语

:GB/T22461.1—20231:(ISO18115-1:2013,IDT)

表面化学分析词汇第部分扫描探针显微术术语

ISO18115-22:(Surfacechemicalanalysis—

Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning-probemicroscopy)

注表面化学分析词汇第部分扫描探针显微术术语

:GB/T22461.2—20232:(ISO18115-2:2013,MOD)

3术语和定义

和界定的术语和定义适用于本文件

ISO18115-1ISO18115-2。

4符号和缩略语

下列符号和缩略语适用于本文件

。

X作为下标表示覆盖层材料

:,。

Y作为下标表示内核材料

:,。

x作为下标表示来自材料X的特定光电子峰

:,。

作为下标表示来自材料Y的特定光电子峰

y:,。

Ii来自峰i的电子强度

:。

IiI来自纯材料I的峰i的电子强度

,:。

a给定位置处覆盖层材料的纵向厚度

:。

b给定位置处内核材料的纵向厚度

:。

LiJ来自峰i的电子穿过材料J的有效衰减长度

,:。

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