适用范围：本文件描述了水处理剂中氨氮含量的测定方法。 本文件适用于水处理剂中氨氮含量的测定。当称样量为5 g时，纳氏试剂分光光度法(2 cm吸收池)的检出限为2.5 mg/kg，适用于氨氮含量为10 mg/kg~200 mg/kg范围的样品测定；水杨酸分光光度法(1 cm吸收池)的检出限为1 mg/kg，适用于氨氮含量为4 mg/kg ~16 mg/kg范围的样品测定；蒸馏-中和滴定法的检出限为5 mg/kg，适用于氨氮含量为不小于20 mg/kg范围的样品测定；水杨酸快速分光光度法(4 cm吸收池)的检出限为1.5 mg/kg，适用于氨氮含量为10 mg/kg~250 mg/kg范围的样品测定。

适用范围：本文件描述了锅炉用水和冷却水中浊度的测定方法———分光光度法。 本文件适用于锅炉用水和冷却水中浊度的测定。测定范围为0 FTU~100 FTU,对于浊度大于100 FTU的水样可稀释后测定。本文件也适用于天然水、澄清池进出水、除盐水、超滤和反渗透产水中浊度的测定。

适用范围：本文件规定了使用定量核磁共振波谱氢谱内标法进行有机化合物纯度分析的通用规则。 本文件适用于使用定量核磁共振波谱氢谱内标法对含有可产生准确定量核磁共振信号氢原子(1H)并且分子结构明确的有机化合物进行纯度分析。 本文件不适用于对仅含有羟基、氨基和巯基等基团中氢原子(1H)的化合物进行纯度分析。

适用范围：本文件描述了使用液相色谱-飞行时间质谱联用法进行蛋白质分子量测定的方法，给出了对测定数据进行分析的通用规则。 本文件适用于蛋白质或多肽的分子量测定。

适用范围：本文件描述了工业循环冷却水及锅炉用水的pH测定方法。 本文件适用于工业循环冷却水及锅炉用水pH在0~14范围内的测定,也适用于天然水、污水的pH的测定。

适用范围：本文件规定了萤石矿中氟化钙、氧化钙、二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化镁、三氧化硫、五氧化二磷、铅、锌、氧化钾、氧化钠及多元素的化学分析方法。 本文件适用于萤石矿成分分析。

适用范围：本文件描述了EDTA 滴定法测定铝土矿石中氧化铝含量的方法。本文件适用于铝土矿石中氧化铝含量的测定，测定范围： 30.00% ～ 80.00%

适用范围：本文件规定了采用氦离子化气相色谱仪配合浓缩解吸装置测定质子交换膜燃料电池汽车用氢气中氨气、甲醛的试验方法

适用范围：本文件描述了油气储层砂岩样品扫描电镜分析中的原理仪器设备、软件及材料，试样制备，试验步骤，分析步骤和分析报告等内容。 本文件适用于砂岩样品的扫描电镜分析，也适用于泥岩、页岩、煤岩等岩石中砂质组分的扫描电镜分析。

适用范围：本文件描述了在俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)中使用惰性气体离子的离子束对准方法,以确保溅射深度剖析中的良好深度分辨和表面的最佳清洁。这些方法有两类:一类是用法拉第杯测量离子束流;另一类是成像方法。其中,法拉第杯法还规定了离子束流密度和束流分布的测量要求。 本文件适用于束斑直径小于或等于1 mm 的离子枪,但不包括深度分辨优化。

适用范围：本文件举例描述了ISO/TC 201专业范围内有助于表征生产生物传感装置基底性质的表面化学分析方法。成功的表征使人们有机会更好地了解生产过程中每个步骤的表面化学反应,这些特性将影响最终器件(如微阵列)的整体性能。制备的步骤包括连接分子固定用于基底活化,以及用生物传感(即所谓的探针)所需的特异性生物分子对活化的基底进行功能化修饰。 玻片的硅烷基功能化是生物传感玻璃基底研究的重点,也是后续固定探针分子的关键生产步骤。固定好的探针用于传感生物识别事件。选择硅烷化过程是因为它是目前生物传感器生产中最受欢迎的方法之一。 本文件概述了识别基底、器件生产步骤(如清洁、活化和化学修饰)和有效期(如储存条件和老化)相关问题可能来源的方法、策略和指南。这些与表征玻璃基底生物传感器的表面化学分析人员和生物传感装置生产领域的开发人员或质量管理者均特别相关。基于定量和定性表面化学分析,能制定策略来确认器件制造中性能不佳的原因,并加以实施。本文件展示了当前技术的研究深度,以及ISO/TC 201未来更具体工作的潜在出发点,这些工作最终将形成标准化的测量程序。 本文件未讨论具体的处理方案。如需了解有关方案的更多信息,请参考专业文献,例如参考文献[1]~参考文献[9]。

适用范围：本文件描述了使用原子力显微镜（AFM）测量柔顺材料弹性模量的程序。通过测量柔顺材料表面的力-距离曲线，并使用基于JKR模型理论的两点法进行分析。 本文件适用于弹性模量范围为100 kPa～1 GPa的柔顺材料。空间分辨取决于AFM探针和表面之间的接触半径，通常约为10 nm～20 nm。

适用范围：本文件描述了利用X射线光电子能谱(XPS)测量导电碳基材料结合能的方法。 本文件适用于碳纳米管、石墨烯、石墨等导电碳基材料结合能的测量。

适用范围：本文件描述了使用中能离子散射术（MEIS）对硅基底上无定形重金属氧化物超薄膜进行定量深度剖析的方法。

适用范围：本文件界定了光学界面分析领域(包括椭偏测量、拉曼光谱和非线性光学)的表面化学分析术语,以及普通光学术语。 本文件适用于表面化学分析中光学界面分析相关的教学、科研、设计、制造、编写相关技术文件和书刊以及技术交流。

适用范围：本文件描述了一种通过对尺寸比预期分辨小得多的物体成像来测定共聚焦荧光显微镜（CFM）横向分辨的方法。