适用范围：主要技术内容:本标准规定了结构光手持式三维测量系统（以下简称“扫描仪”）的术语和定义、产品架构、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及质量承诺。本标准适用于基于结构光应用技术的手持式三维测量系统

适用范围：主要技术内容:本标准规定了义齿三维扫描仪（以下简称“扫描仪”）的术语和定义、产品原理与构成及主要参数、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及质量承诺。本标准适用于牙颌模型扫描数据采集、处理和输出的三维扫描仪

适用范围：主要技术内容:本标准规定了水平尺的术语和定义、型式与基本参数、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量承诺。本标准适用于准确度等级为0级、1级、2级和3级，尺体长度L不大于2500mm的金属材料或塑料材料制造的水平尺

适用范围：本标准规定了尖头千分尺（不包括电子数显尖头千分尺）的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求﹑检验方法、标志与包装。本标准适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm、0.005 mm，测微头量程为25 mm，测量范围上限至100 mm的尖头千分尺（不包括电子数显尖头千分尺）。

适用范围：本标准规定了电子数显外径千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、试验方法、标志与包装。  本标准适用于分辨力为0.001 mm，量程小于或等于50 mm，测量范围上限至1 000 mm的电子数显外径千分尺（以下简称“电子数显千分尺”）。

适用范围：本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求﹑检验方法、试验方法、标志与包装。本标准适用于分辨力为0.001 mm，量程小于或等于100 mm，测量范围上限至1 000 mm的电子数显内径千分尺。测量范围1 000 mm~6 000 mm的A型电子数显内径千分尺参见附录A。

适用范围：本标准规定了深度千分尺（不包括电子数显深度千分尺）的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求、检验条件、检验方法、标志与包装。 本标准适用于分度值为0.01 mm、0.005 mm、0.001 mm，测微头量程为25 mm、50 mm，测量范围上限至300 mm的标尺读数和数字读数深度千分尺（不包括电子数显深度千分尺）。

适用范围：本标准规定了特殊结构的电子数显外径千分尺的术语和定义﹑通用型式与基本参数﹑通用要求﹑通用检验方法、特殊型式和参数以及特殊要求与检验方法、试验方法、标志与包装。本标准适用于分辨力为0.001 mm，量程小于或等于25 mm，测量范围上限至500 mm的特殊结构的电子数显外径千分尺（以下简称“特殊电子千分尺”）。

适用范围：本标准规定了三爪内径千分尺（不包括电子数显三爪内径千分尺）的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验条件、检验方法、标志与包装。 本标准适用于分度值为0.001 mm、0.005 mm，测量范围上限至300 mm的标尺读数和数字读数三爪内径千分尺（不包括电子数显三爪内径千分尺）。

适用范围：本标准规定了外径千分尺（不包括电子数显外径千分尺）的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求﹑检验方法以及标志与包装。 本标准适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm，测量范围上限至1 000 mm的外径千分尺（不包括电子数显外径千分尺）。

适用范围：本标准规定了π尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验条件、检验方法、标志与包装。本标准适用于分度值为0.01 mm、0.02 mm和0.05 mm，直径测量范围为9 mm~5 000 mm的π尺。

适用范围：本标准规定了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求﹑检验方法、试验方法、标志与包装。 本标准适用于分辨力为0.001 mm，量程小于或等于50 mm的电子数显测微头和测量范围上限至300 mm的电子数显深度千分尺。