适用范围：本文件规定了色彩分析仪的性能分级要求、测试环境、设备要求、测评方法。 本文件适用于色彩分析仪的分级性能评价。

适用范围：本文件描述了大功率LED(HPLED)的光度、辐射度和色度参数等光学参数的测量方法。本文件适用于以结温为参考温度的HPLED的实验室光学测量。本文件适用于可见光HPLED的光学测量，非可见光LED的光学测量可参考本文件。本文件适用于直流供电的单芯、多芯HPLED［诸如高压LED(HVLED)和基板式LED(COB LED)］的光学测量。本文件不适用于交流驱动型LED、有机发光二极管(OLED)、LED模组、LED光引擎、LED灯和LED灯具等LED产品的光学测量。

适用范围：本文件描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法。本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。本文件也适用于在样品制备满足透射电子显微镜观察要求时的胶体和生物组织中纳米颗粒粒径测量。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了光谱辐射亮度计的术语和定义、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存和质量承诺。本文件适用于光谱辐射亮度计

适用范围：范围:本文件适用于聚合物中六氯丁二烯(HCBD)的测定; 主要技术内容:本文件规定了聚合物中六氯丁二烯(HCBD)的气相色谱-质谱(GC-MS)联机测定方法

适用范围：范围:本文件适用于聚合物中2,4,6-三叔丁基苯酚(2,4,6-TTBP)的测定; 主要技术内容:本文件规定了聚合物中2,4,6-三叔丁基苯酚(2,4,6-TTBP)的气相色谱-质谱(GC-MS)联机测定方法

适用范围：范围:本文件适用于离子风机静电消除器类设备的性能检测; 主要技术内容:本文件规定了离子风机静电消除器的术语和定义、性能要求与检测方法

适用范围：本文件规定了光学和光子学环境试验方法的术语和定义、试验程序及环境试验标记。 本文件适用于有关光学和光子学仪器，其他领域(如机械、化学和电子设备)参照执行。

适用范围：本文件规定了中性分束膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的中性分束膜。本文件既能满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也能使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件描述了光学和光子学含二氧化硫、硫化氢的湿空气试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备)的含二氧化硫、硫化氢的湿空气试验。

适用范围：本文件描述了低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域附属组件（如机械、化学和电子设备)的低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验。

适用范围：本文件规定了减反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的减反射膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件规定了金属反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的基于铝或银的金属反射膜。本文件既满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件描述了光学和光子学长霉试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器，包括来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备）的长霉试验。 本文件不适用于常规生产检查。

适用范围：本文件描述了光学和光子学砂尘的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器，包括来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备)的砂尘试验。 本文件不适用于对粗粒砂尘耐磨性的试验。

适用范围：本文件描述了光学和光子学滴水、淋雨试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器，包括来自其他领域（如机械、化学和电子设备)的滴水、淋雨试验。

适用范围：本文件描述了光学和光子学低温、高温、湿热试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件（如机械、化学和电子设备）的低温、高温与湿热试验。

适用范围：本文件规定了电子探针测量硫化物矿物成分的仪器设备、试样制备、标样、分析测试条件的选择、谱线重叠修正、分析步骤、结果处理和检测报告。本文件适用于在电子束轰击下稳定的硫化物矿物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物等矿物的电子探针定量分析。本文件适用于以电子探针进行的定量分析，也适用于安装了波谱仪的扫描电子显微镜进行的定量分析。

适用范围：本文件描述了光学和光子学露、霜、冰试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备）的露、霜、冰试验。

适用范围：本文件描述了光学和光子学污染试验的环境试验方法。 注： 本文件中所指的“污染”的含义是腐蚀性化学物质1)(以下简称“试剂”)同光学和光子学仪器的接触。 本文件适用于有关光学和光子学仪器，包括来自其他领域(如机械、化学和电子设备）的污染试验。 本文件不适用于作为正常的生产控制。