适用范围：本文件确立了入射光荧光显微术中照明亮度、时间稳定性和均匀性的试验程序。当图像平面或中间图像平面适合电子成像设备检测时,仅在这些平面上进行均匀性的测量。 本文件规定了如何测量照明亮度、时间稳定性和均匀性,以及如何向用户提供这些信息。 注:本文件的适用范围仅限于电子成像设备和(中间)图像平面。如果通过目镜进行目视测量,则需要采用不同的试验程序,这会导致试验程序的描述不清晰。尽管如此,本文件仍能为目视观测提供参考依据,例如,当使用目镜观测中间图像平面时(该场景属于本文件的范围),仍能获得有价值的参考数据。

适用范围：本文件规定了生物显微镜产品的分类及基本参数、要求、检验规则、标志、包装、运输及贮存,描述了相应的试验方法。 本文件适用于机械筒长为160 mm或无限远的各类生物显微镜。

适用范围：本文件规定了显微镜物镜的分类、基本参数、要求和标志、包装,描述了相应的试验方法。 本文件适用于机械筒长为160 mm和像距为无限远的显微镜物镜,也适用于显微术物镜,但不包含显微术对物镜特定的技术要求。

适用范围：本文件规定了显微镜目镜的分类及基本参数、要求和标志、包装,描述了相应的试验方法。 本文件适用于显微镜观察目镜。

适用范围：本文件规定了望远镜系统和观测望远镜透射率的试验方法。

适用范围：本文件规定了望远镜系统和观测望远镜极限分辨力的试验方法。

适用范围：本文件界定了光纤传感技术的相关术语。 本文件适用于光纤传感的生产、应用、研究以及其他有关技术领域。

适用范围：本文件描述了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法：摩擦、附着力和耐水性。 本文件适用于在光学元器件及基底表面镀制的光学薄膜。 本文件不适用于眼科光学（眼镜）方面的光学薄膜。 注：GB/T 26332.3中提到的试验方法通常与其他环境适应性试验按一定序列组合使用，应用示例见GB/T 26332.3-2015的附录A。

适用范围：本文件描述了在透射电子显微镜或扫描透射电子显微镜中电子能量损失谱的能量步长和能量标尺的校准程序。 本文件适用于进行元素分析之前的电子能量损失谱的校准，校准能量范围在0 eV～3000 eV。 本文件适用于分析薄试样透射电子的电子能量损失谱，不适用于分析块体试样背散射电子的电子能量损失谱。

适用范围：本文件描述了电子探针测量稀土矿物成分的标样选择、分析测试条件的选择、干扰峰修正、分析步骤、结果处理和检测报告。 本文件适用于稀土矿物的电子探针定量分析，也适用于其他稀土化合物的电子探针定量分析。

适用范围：本文件描述了复杂曲面光学元件的几何参数的测试方法。 本文件适用于各类光学玻璃材料、光学晶体材料、碳化硅陶瓷材料、金属材料等光学材料制备的复杂曲面光学元件轮廓尺寸、有效通光孔径、顶点曲率半径、离轴量、偏心量以及滚转角等几何参数测量。

适用范围：本文件描述了用扫描电镜测量各类金制品中金覆盖层厚度的方法。 本文件适用于25 nm~50μm 的金覆盖层厚度的测定。其他厚度金覆盖层的测量参照执行。 注:实际可测量的最小厚度受扫描电镜的图像分辨率、放大倍数等设备性能参数以及试样制备技术、导电性等影响。

适用范围：本文件界定了扫描电子显微术(SEM)在实际应用中使用的术语。包括基础术语和按不同技术内容分类的术语,也包括已经在ISO 23833中定义的术语。 本文件适用于所有有关SEM实际应用中的标准化文件。另外,本文件的某些术语,也适用于相关领域的文件[例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等]。