• T/CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法 现行
    译:T/CSTM 00003-2019 Two-dimensional material thickness measurement using atomic force microscopy
    适用范围:主要技术内容:本标准规定了二维材料厚度测量 原子力显微镜法的原理、仪器设备、样品前处理、测试方法、厚度计算方法、测量结果的不确定度评定及测试报告。本标准适用于可以与基底形成台阶的二维材料厚度测量
    【国际标准分类号(ICS)】 :07.030物理学、化学 【中国标准分类号(CCS)】 :N70/79试验机与无损探伤仪器
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2019-01-03 | 实施时间: 2019-02-01