• T/WXIOT 002-2023 汽车用半导体分立器件破坏性物理分析方法 现行
    译:T/WXIOT 002-2023 Physical destructive analysis method for semiconductor discrete devices used in automobiles
    【国际标准分类号(ICS)】 :19.020试验条件和规程综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2023-12-22 | 实施时间: 2023-12-30