国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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译：SJ/T 11630-2016 SJ/T 11630-2016 Geometric Dimension Test Method for Silicon Substrates Used in Solar Cells【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01收藏 -
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译：SJ/T 11631-2016 The testing method for surface defects of silicon wafers used in solar cells【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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译：SJ/T 11632-2016 Testing method for micro-crack defects in silicon wafers used in solar cells【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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译：SJ/T 11628-2016 The online testing methods for silicon wafer size and electrical characterization for solar cells【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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译：SJ/T 11627-2016 The online testing method for the resistivity of silicon wafers used in solar cells【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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译：SJ/T 11629-2016 Online photoluminescence analysis method for silicon wafers and cell modules used in solar cells【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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译：SJ/T 10557.3-1994 Method for measurement of average dislocation density of Aluminium foil for electroytic capacitor【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 ：H20/29金属理化性能试验方法发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1994-08-08 | 实施时间： 1994-12-01收藏
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译：SJ/T 10171.1-1991 Measurement methods for performances of separator of alkaline batteries--Determination of thickness of separator【国际标准分类号(ICS)】 ：29.220电池和蓄电池 【中国标准分类号(CCS)】 ：H22金属力学性能试验方法发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1991-05-28 | 实施时间： 1991-12-01收藏
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