SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
SJ/T 11632-2016 Testing method for micro-crack defects in silicon wafers used in solar cells
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：9页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11632-2016
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2016-04-05
实施日期
2016-09-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2016年04月
研制信息
- 起草单位：
- 中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司等
- 起草人：
- 熊伟、贺东江、卫国军 等
- 出版信息：
- 页数：9页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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