电子-电子设备与专用材料、零件、结构件（分类列表）最全国家标准、行业标准-第9页-准行天下

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SJ/T 11018-1996 电子器件用纯银钎焊料的分析方法燃烧碘量法测定硫

译：SJ/T 11018-1996 Methods of analysis for pure silver brazing for electronic devices--Determination of sulfur (iodimetric combustion method)

【国际标准分类号(ICS)】：暂无【中国标准分类号(CCS)】：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件

发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1996-11-20 | 实施时间： 1997-01-01

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SJ/T 10857-1996 铬版

译：SJ/T 10857-1996 Chrome blanks

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SJ/T 10923-1996 电子工业用硅酸钾溶液中总碱度的测定方法

译：SJ/T 10923-1996 Potassium silicate solution for use in electronic industry--Methods of determination of total alkalinity

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SJ/T 11023-1996 电子器件用银铜钎焊料的分析方法原子吸收分光光度法测定铋

译：SJ/T 11023-1996 Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of bismuth (spectrophotometric-atomic absorption method)

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SJ/T 11065-1996 钼基钨靶

译：SJ/T 11065-1996 Molybdenum-deposited Tungsten target

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SJ/T 11013-1996 电子器件用纯银钎焊料的分析方法原子吸收分光光度法测定镉

译：SJ/T 11013-1996 Methods of analysis for pure silver brazing for electronic devices--Determination of cadmium (spectrophotometric-atomic absorption method)

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SJ/T 10924-1996 电子工业用硅酸钾溶液中二氧化硅含量的测定方法

译：SJ/T 10924-1996 Potassium silicate solution for use in electronic industry--Methods of determination of silica content

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SJ/T 10861-1996 铬版光密度的测试方法

译：SJ/T 10861-1996 Test method for optical density of chrome blanks

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SJ/T 11016-1996 电子器件用纯银钎焊料的分析方法马钱子碱－碘化钾分光光度法测定铋

译：SJ/T 11016-1996 Methods of analysis for pure silver brazing for electronic devices--Determination of bismuth (spectrophotometric strychnine-potasssium iodide method)

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SJ/T 11019-1996 电子器件用纯银钎焊料的分析方法铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡及锑的化学光谱测定

译：SJ/T 11019-1996 Methods of analysis for pure silver brazing for electronic devices--Determination of Pb, Bi, Zn, Cd, Fe, Mg, Al, Sn and Sb (spectrochemical method)

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SJ/T 11031-1996 电子器件用金铜及金镍钎焊料的分析方法磷钼蓝分光光度法测定磷

译：SJ/T 11031-1996 Methods of analysis for gold-copper and gold-nickel brazing for elelctronic devices--Determination of phophorus (spectrophotometric method)

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SJ/T 10895-1996 电子玻璃中氧化钙、氧化锶、氧化钡、氧化镁的原子吸收分析

译：SJ/T 10895-1996 Determination of CaO SrO and MgO in electronic glass--Atomic absorption method

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SJ/T 10794-1996 电子技术用玻璃的牌号命名方法

译：SJ/T 10794-1996 Type designation system for glass used in electronic applications

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SJ/T 10901-1996 电子玻璃中二氧化锰的分析高碘酸钾氧化法

译：SJ/T 10901-1996 Determination of manganese dioxide in electronic glass--Potassium periodate oxidation method

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SJ/T 11011-1996 电子器件用纯银钎焊料的分析方法双硫腙分光光度法测定铅

译：SJ/T 11011-1996 Method of analysis for pure silver brazing for electronic devices--Determination of lead (spectrophotometric-dithizone method)

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SJ/T 10760-1996 电子元器件结构陶瓷材料的名称和牌号的命名方法

译：SJ/T 10760-1996 Designations for names and models of structure ceramic materials for electronic components

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SJ/T 11033-1996 电子玻璃密度的测试方法浮沉法

译：SJ/T 11033-1996 Test method for density of electronic glass--Sink-float comparator method

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SJ/T 10939-1996 彩色显像管玻璃中氧化铈的分析

译：SJ/T 10939-1996 Determination of Cerium oxide in color picture tube glass

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SJ/T 10929-1996 电子工业用硅酸钾溶液中重金属（Ｐｂ）的测定方法

译：SJ/T 10929-1996 Potassium silicate solution for use in electronic industry--Methods of determination of heavy metals(Pb)

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SJ/T 10922-1996 电子工业用硅酸钾溶液分析方法通则

译：SJ/T 10922-1996 Potassium silicate solution for use in electronic industry--General rules of analysis

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