国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：SJ/T 12026-2025 General method for evaluating computing power performance【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏 -
现行
译：SJ/T 12035-2025 Artificial intelligence chips and test indicators and testing methods for edge deep learning chips【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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译：SJ/T 12039-2025 Method for verifying the consistency of mixed-signal chip design【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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译：SJ/T 12038-2025 Simulation chip design consistency verification method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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译：SJ/T 12040-2025【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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译：SJ/T 12037-2025 Artificial intelligence chip Cloud-side training deep learning chip testing indicators and testing methods【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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译：SJ/T 12025-2025 General performance evaluation technology requirements for computing power【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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译：SJ/T 12036-2025 Artificial intelligence chips Cloud-side inference Deep learning chip testing indicators and testing methods【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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译：SJ/T 12034-2025 Artificial intelligence chip Edge-side deep learning chip testing indicators and testing methods【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
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译：SJ/T 11846-2022 Voltage Regulator Low Frequency Noise Parameter Test Method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01收藏
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译：SJ/T 11875-2022 The stress testing procedure for semiconductor integrated circuits used in electric vehicles【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01收藏
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译：SJ/T 11704-2018 The test method for digital signal transmission characteristics of microelectronic packaging【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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译：SJ/T 2406-2018 SJ/T 2406-2018 Microwave circuit model naming method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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译：SJ/T 10805-2018 Voltage comparator testing method for semiconductor integrated circuits【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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译：SJ/T 11705-2018 Microelectronic device packaging ground and power supply impedance testing method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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译：SJ/T 11700-2018 SJ/T 11700-2018 IP core quality information description method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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译：SJ/T 11699-2018 SJ/T 11699-2018 IP Core Testability Design Guidelines【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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译：SJ/T 11702-2018 Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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译：SJ/T 11701-2018 Universal NAND-type Flash Memory Interface【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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译：SJ/T 11703-2018 Testing method for crosstalk characteristics of digital microelectronic devices packaging【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
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