SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
SJ/T 11702-2018 Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：11页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11702-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2018年02月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子技术标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司
- 起草人：
- 钟明琛、胡海涛、李秦华 等
- 出版信息：
- 页数：11页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- HG/T 4516-2013 工业硫酸氢钠 2013-10-17
- HG/T 4528-2013 牙膏用重质碳酸钙 2013-10-17
- JT/T 825.12-2012 IC卡道路运输证件 第12部分：IC卡读写器技术要求 2012-02-20
- HG/T 3249.2-2013 涂料工业用重质碳酸钙 2013-10-17
- HG/T 3796.2-2006 搅拌轴轴径系列 2006-01-17
- DL/T 1038-2007 煤的可磨性指数测定方法（VTI法） 2007-07-20
- HG/T 4518-2013 工业铝酸钠 2013-10-17
- EJ/T 1083-2012 核材料分析化学实验室测量控制大纲 2013-01-04
- DL/T 245-2012 发电厂直接空冷凝汽器单排管管束 2012-04-06
- QC/T 854-2011 轴肩式双头螺柱 2011-12-20