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SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

SJ/T 11703-2018 Testing method for crosstalk characteristics of digital microelectronic devices packaging

行业标准-电子 简体中文 现行 页数：6页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ/T 11703-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L55/59 微电路
国际标准分类号（ICS）
31.200 集成电路、微电子学
发布日期
2018-02-09
实施日期
2018-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国集成电路标准化分技术委员会
适用范围
-

发布历史

文前页预览

SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法-第1页

研制信息

起草单位：
中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等
起草人：
王琪、张崤君、贾松良 等
出版信息：
页数：6页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

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