• SJ/T 12026-2025 通用算力性能测评方法 现行
    译:SJ/T 12026-2025 General method for evaluating computing power performance
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12035-2025 人工智能芯片 端侧深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:SJ/T 12035-2025 Artificial intelligence chips and test indicators and testing methods for edge deep learning chips
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12039-2025 模数混合芯片设计一致性验证方法 现行
    译:SJ/T 12039-2025 Method for verifying the consistency of mixed-signal chip design
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12040-2025 数字芯片设计一致性验证方法 现行
    译:SJ/T 12040-2025
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12038-2025 模拟芯片设计一致性验证方法 现行
    译:SJ/T 12038-2025 Simulation chip design consistency verification method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12025-2025 通用算力性能测评技术要求 现行
    译:SJ/T 12025-2025 General performance evaluation technology requirements for computing power
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12037-2025 人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:SJ/T 12037-2025 Artificial intelligence chip Cloud-side training deep learning chip testing indicators and testing methods
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12036-2025 人工智能芯片 云侧推理用深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:SJ/T 12036-2025 Artificial intelligence chips Cloud-side inference Deep learning chip testing indicators and testing methods
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12034-2025 人工智能芯片 边缘侧深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:SJ/T 12034-2025 Artificial intelligence chip Edge-side deep learning chip testing indicators and testing methods
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 11846-2022 电压调整器低频噪声参数测试方法 现行
    译:SJ/T 11846-2022 Voltage Regulator Low Frequency Noise Parameter Test Method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2022-10-20 | 实施时间: 2023-01-01
  • SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 现行
    译:SJ/T 11702-2018 Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口 现行
    译:SJ/T 11701-2018 Universal NAND-type Flash Memory Interface
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11585-2016 串行存储器接口要求 现行
    译:SJ/T 11585-2016 Serial Memory Interface Requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-01-15 | 实施时间: 2016-06-01
  • SJ/T 11479-2014 IP文档结构指南 现行
    译:SJ/T 11479-2014
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • SJ/T 11477-2014 IP核交付项规范 现行
    译:SJ/T 11477-2014 SJ/T 11477-2014 IP core delivery specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • SJ/T 11478-2014 IP核质量评测 现行
    译:SJ/T 11478-2014 IP Core Quality Evaluation
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • SJ/Z 11359-2006 集成电路IP核开发与集成的功能验证分类法 现行
    译:SJ/Z 11359-2006 Taxonomy of functional verification for integrated circuit IP core development and integration
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11358-2006 集成电路IP核模型分类法 废止
    译:SJ/Z 11358-2006 SJ/Z 11358-2006 IP core model classification for integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11351-2006 用于描述、选择和转让的集成电路IP核属性格式标准 废止
    译:SJ/Z 11351-2006 SJ/Z 11351-2006 is the standard format for describing, selecting, and transferring IP cores for integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01
  • SJ/Z 11353-2006 集成电路IP核转让规范 废止
    译:SJ/Z 11353-2006 SJ/Z 11353-2006 Specification for Transfer of Integrated Circuit IP Kernels
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01