• QC/T 1290-2026 汽车底盘控制芯片技术要求及试验方法 即将实施
    译:QC/T 1290-2026 The technical requirements and testing methods for the control chip of automobile chassis
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-QC)行业标准-汽车 | 发布时间: 2026-06-01 | 实施时间: 2026-12-01
  • SJ/T 12026-2025 通用算力性能测评方法 现行
    译:SJ/T 12026-2025 General method for evaluating computing power performance
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12035-2025 人工智能芯片 端侧深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:SJ/T 12035-2025 Artificial intelligence chips and test indicators and testing methods for edge deep learning chips
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12039-2025 模数混合芯片设计一致性验证方法 现行
    译:SJ/T 12039-2025 Method for verifying the consistency of mixed-signal chip design
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12038-2025 模拟芯片设计一致性验证方法 现行
    译:SJ/T 12038-2025 Simulation chip design consistency verification method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12040-2025 数字芯片设计一致性验证方法 现行
    译:SJ/T 12040-2025
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12025-2025 通用算力性能测评技术要求 现行
    译:SJ/T 12025-2025 General performance evaluation technology requirements for computing power
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12037-2025 人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:SJ/T 12037-2025 Artificial intelligence chip Cloud-side training deep learning chip testing indicators and testing methods
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12034-2025 人工智能芯片 边缘侧深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:SJ/T 12034-2025 Artificial intelligence chip Edge-side deep learning chip testing indicators and testing methods
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 12036-2025 人工智能芯片 云侧推理用深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:SJ/T 12036-2025 Artificial intelligence chips Cloud-side inference Deep learning chip testing indicators and testing methods
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2025-09-09 | 实施时间: 2026-03-01
  • SJ/T 11846-2022 电压调整器低频噪声参数测试方法 现行
    译:SJ/T 11846-2022 Voltage Regulator Low Frequency Noise Parameter Test Method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2022-10-20 | 实施时间: 2023-01-01
  • YD/T 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法 现行
    译:YD/T 3944-2021 The benchmarking method for artificial intelligence chips
    适用范围:本文件规定了人工智能芯片基准测试框架、评测指标及评估方法,主要包括基本信息披露和技术测试。 本文件适用于芯片厂商或检测机构对具有人工智能算法加速能力的处理器或加速器的基准测试工作。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-YD)行业标准-邮电通信 | 发布时间: 2021-08-21 | 实施时间: 2021-11-01
  • SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 现行
    译:SJ/T 11702-2018 Semiconductor integrated circuit serial peripheral interface test method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11701-2018 通用NAND型快闪存储器接口 现行
    译:SJ/T 11701-2018 Universal NAND-type Flash Memory Interface
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01
  • SJ/T 11585-2016 串行存储器接口要求 现行
    译:SJ/T 11585-2016 Serial Memory Interface Requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2016-01-15 | 实施时间: 2016-06-01
  • SJ/T 11479-2014 IP文档结构指南 现行
    译:SJ/T 11479-2014
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • SJ/T 11478-2014 IP核质量评测 现行
    译:SJ/T 11478-2014 IP Core Quality Evaluation
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • SJ/T 11477-2014 IP核交付项规范 现行
    译:SJ/T 11477-2014 SJ/T 11477-2014 IP core delivery specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-10-14 | 实施时间: 2015-04-01
  • GA/T 1171-2014 芯片相似性比对检验方法 现行
    译:GA/T 1171-2014 Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips
    适用范围:本标准规定了集成电路芯片相似性比对检验方法。 本标准适用于集成电路芯片相似性比对,检验集成电路芯片设计的相似性。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-GA)行业标准-公共安全 | 发布时间: 2014-07-09 | 实施时间: 2014-07-09
  • SJ/Z 11358-2006 集成电路IP核模型分类法 废止
    译:SJ/Z 11358-2006 SJ/Z 11358-2006 IP core model classification for integrated circuits
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :L56半导体集成电路
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2006-09-26 | 实施时间: 2006-12-01