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DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

DB52/T 1104-2016 Semiconductor device junction-cage thermal resistance transient testing method

贵州省地方标准 简体中文 废止 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
DB52/T 1104-2016
标准类型
贵州省地方标准
标准状态
废止
中国标准分类号（CCS）
L40/49 半导体分立器件
国际标准分类号（ICS）
31.080.01 半导体器分立件综合
发布日期
2016-04-01
实施日期
2016-10-01
发布单位/组织
贵州省质量技术监督局
归口单位
-
适用范围
-
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