DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
DB52/T 1104-2016 Semiconductor device junction-cage thermal resistance transient testing method
贵州省地方标准
简体中文
废止
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
DB52/T 1104-2016
标准类型
贵州省地方标准
标准状态
废止
发布日期
2016-04-01
实施日期
2016-10-01
发布单位/组织
贵州省质量技术监督局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
2016年04月
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研制信息
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内容描述
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