JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜 试验方法
JB/T 6842-1993 Scanning electron microscopy (SEM) test method
行业标准-机械
简体中文
废止
页数:11页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
JB/T 6842-1993
标准类型
行业标准-机械
标准状态
废止
中国标准分类号(CCS)
-
国际标准分类号(ICS)
-
发布日期
1993-07-09
实施日期
1994-01-01
发布单位/组织
机械工业部
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1993年07月
研制信息
- 起草单位:
- 起草人:
- 出版信息:
- 页数:11页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CIEP 0120-2024 低碳电线电缆企业评价通则 2024-12-24
- T/DLEPI 001-2025 废液减量服务规范 2025-01-09
- T/CMEPCA 054-2024 温室气体 产品碳足迹量化方法与要求 干式变压器 2024-12-30
- T/CMEPCA 057-2024 温室气体 产品碳足迹量化方法与要求 电气继电器 2024-12-30
- T/SIPAQLHH 0004-2025 生物医药研发企业实验室安全管理规范 2025-01-09
- T/GDRPA 21-2025 核辐射防护服 放射性尘埃防护服 1970-01-01
- T/CERDS 12-2024 基于物理技术的集中用餐剩余食物就地饲料化利用规范 2024-11-08
- T/GXAS 919-2024 产品碳足迹核算及碳中和评价指南 2024-12-31
- T/HNCAA 065-2025 核与辐射应急人员体表监测及去污洗消流程 2025-01-10
- T/CASME 1817-2024 流域河流水生态环境监测与评价技术规程 2024-12-20