GB/T 24762-2009 产品几何技术规范(GPS) 影像测量仪的验收检测和复检检测

GB/T 24762-2009 Geometrical Product Specifications(GPS)—Acceptance test and reverification test for video measuring machine

国家标准 中文简体 现行 页数:18页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 24762-2009
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2009-12-15
实施日期
2010-09-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC 132)
适用范围
-

发布历史

研制信息

起草单位:
深圳市计量质量检测研究院、深圳赛克数码科技开发有限公司
起草人:
于冀平、汤宁、王晋、姜志刚、吴纪岳、缪华清、姜雅彦、赵辉、陆国征、马俊杰、吕蓉、李晓沛
出版信息:
页数:18页 | 字数:28 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS17.040.30

J42

中华人民共和国国家标准

GB/T24762—2009

产品几何技术规范(GPS)

影像测量仪的验收检测和复检检测

GeometricalProductSpecifications(GPS)—Acceptancetest

andreverificationtestforvideomeasuringmachine

2009-12-15发布2010-09-01实

发布

GB/T24762—2009

目次

前言I

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4计量学特性要求2

5验收检测与复检检测3

6按标准检测合格7

7应用7

附录A(规范性附录)专用台阶规技术规格9

附录B(资料性附录)镜头齐焦10

附录C(资料性附录)影像测量仪分辨力与放大倍数的匹配关系11

附录D(资料性附录)单、双向逼近和单、双向及对中测量12

附录E(资料性附录)中间核查13

附录F(资料性附录)在GPS矩阵模式中的位置14

参考文献15

GB/T24762—2009

-1.Z-—1—

刖弓

本标准的附录A为规范性附录,附录E、附录C、附录D、附录E和附录F为资料性附录。

本标准由中国机械工业联合会提出。

本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。

本标准负责起草单位:深圳市计量质量检测研究院、深圳赛克数码科技开发有限公司。

本标准参加起草单位:海克斯康测量技术(青岛)有限公司、成都工具研究所、广陆数字测控股份有

限公司、上海交通大学、深圳市中图仪器科技有限公司、奥智品光学仪器(上海)有限公司、机械科学研究

院中机生产力促进中心’

本标准主要起草人:于冀平、汤宁、王晋、姜志刚、吴纪岳、缪华清、姜雅彦、赵辉、陆国征、马俊杰、

吕蓉、李晓沛。

T

GB/T24762—2009

产品几何技术规范(GPS

影像测量仪的验收检测和复检检测

1范围

本标准规定了用已校准长度的标准器(以下简称“标准器”)验证影像测量仪性能的验收检测,以及

用户定期再验证影像测量仪性能的复检检测。

本标准规定的验收检测和复检检测适用于xy平面直角坐标系的影像测量仪,包括在垂直于平面

直角坐标系z方向上具有定位或测量功能的影像测量仪。

本标准规定的验收检测和复检检测不适用于带视频探测系统的三坐标测量机和带三维触发测头的

影像测量仪。

本标准规定了证实影像测量仪性能要求的验收检测和复检检测的完成方法、判定合格的规则和验

收检测和复检检测的应用。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些引用文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。

GB/T17163几何量测量器具术语基本术语

GB/T17164几何量测量器具术语产品术语

GB/T18779.1—2002产品几何量技术规范(GPS)工件与测量设备的测量检验第1部分:按

规范检验合格或不合格的判定规则(ISO14253-1:1998,IDT)

3术语和定义

GB/T17163和GB/T17164确立的以及下列术语和定义适用于本标准。

3.1

影像测量仪videomeasuringmachine

基于成像在光电耦合器件上的光学影像系统(简称影像系统),通过光电耦合器件采集,经过软件处

理成像,显示在计算机屏幕上,利用测量软件进行几何运算得出最终结果的非接触式测量仪器。

3.2

长度测量示值误差lengthmeasurementerror

E,.

影像测量仪对已校准长度的标准器测量,测量值与标准器实际值的差值。

3.3

聚焦平面长度测量示值误差lengthmeasurementerroroffocalplane

E\y

在平行于聚焦平面方向上的长度测量示值误差。

注1:在本标准中,XY平面默认为平行于聚焦平面,若不然,则须作相应标注(例如Exz或EyR。

注2:若仅沿平行于X轴方向或仅沿平行于丫轴方向得到的示值误差,可表示为Ex或Ey。

1

GB/T24762—2009

3.4

光轴方向长度测量示值误差lengthmeasurementerrorofopticalaxis

Ez

在平行于影像系统光轴方向上的长度测量示值误差。

注:在本标准中,z轴默认为平行于影像系统光轴,若不然,则须作相应标注(例如Ex或Er),

3.

截面原点一致性误差consistencyerroroforiginindifferentsections

E()

影像测量仪在不同截面上测量时,各截面坐标原点投影于XY平面的一致程度。

3.6

视窗长度测量示值误差lengthmeasurementerroroffieldofview

E/v

在影像测量仪运动平台不做任何移动的情况下,影像系统视场范围内的任何位置上对已校准长度

的标准器进行视窗测量,测量值与标准器实际值的差值。

3.7

探测误差probingerror

在影像测量仪运动平台按序移动并且采集了分布在可用视场内的点的情况下,影像系统用离散点

的方法对圆形实物标准器进行测量,通过最小二乘法拟合处理所测数据得到的半径范围。

注:检测圆名义上应平行于影像系统的聚焦平面。

3.8

成像误差imagingerrorofvideosystem

E]

在影像测量仪运动平台不做任何移动的情况下,影像系统用离散点的方法对圆形实物标准器进行

测量,通过最小二乘法拟合处理所测数据得到的半径范围。

注:检测圆名义上应平行于影像系统的聚焦平面。

3.9

影像分辨力resolutionofvideosystem

R

对成像在影像系统视场范围内的线纹间距的分辨能力。

4计量学特性要求

4.1环境条件

4.1.1仪器验收和使用时,至少应对下列影响影像测量仪准确度的环境条件参数加以控制:

——仪器测量室的温度、单位时间内的温度变化及相对湿度;

——仪器在测量室平衡温度的吋间;

——仪器与标准器具的温度差等。

上述条件参数:验收检测由制造商规定;复检检测由用户规定。用户可在给定的范围内随意选择环

境条件。

4.1.2仪器测量室内应无影响测量的灰尘、噪音、震动、腐蚀性气体和较强磁场。

注:当检测条件不满足供应商给定的条件时,供应商可能给出更大的允许误差。

4.2操作条件

当进行本标准第5章规定的检测吋,应严格按照制造商所提供的仪器使用说明书操作,以下方面应

2

GB/T24762—2009

特别注意:

a)仪器启动/预热循环;

b)测量系统标定;

c)影像系统放大倍数;

d)照明。

4.3影像测量仪性能要求

本标准允许各种影像测量仪有其自己的功能定义,因此也允许在检测参数的选择上有某些灵活性。

各项性能要求:

——验收检测由制造商规定;

——复检检测由用户规定。

4.3.1长度测量示值误差、截面原点一致性误差

4.3.1.1对在垂直于平面直角坐标系Z方向上具有测量功能的影像测量仪,下列性能要求不应超过

其最大允许误差:

Exy;

Ez;

Ej.v;

E()o

4.3.1.2对在垂直于平面直角坐标系Z方向上具有定位功能的影像测量仪和只能在任何二维平面内

作测量的影像测量仪,下列性能要求不应超过其最大允许误差:

Exy;

E/.v;

E()o

4.3.1.3卜述性能要求的误差及其最大允许误差用微米表示"

4.3.2探测误差

探测误差的检

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