GB/T 32872-2016 空间科学照明用LED筛选规范

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中华人民共和国国彖标准

GB/T32872—2016

空间科学照明用LED筛选规范

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2016-08-29发布2016-11-01实施

GB/T32872—2016

目次

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1范围1

2规范性引用文件1

3总则1

4筛选项目和程序1

5筛选方法2

5.1外观检查2

5.2参数测量2

5.3恒定加速度2

5.4粒子碰撞噪声检测2

5.5密封性检查3

5.6高温存储3

5.7温度冲击3

5.8低温启动3

5.9温度循环4

5.10老炼4

5.11参数终测4

6参数测量和合格判定4

6.1测量条件4

6.2测试参数5

6.3测试方法5

6.4合格判定6

附录A（资料性附录）空间科学照明用LED筛选统计表7

GB/T32872—2016

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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。

本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC312)归口。

本标准起草单位：中国科学院上海技术物理研究所。

本标准主要起草人：张涛、章美敏、刘石神、顾建忠、袁士东、王晨飞。

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GB/T32872—2016

空间科学照明用LED筛选规范

1范围

本标准规定了空间科学照明用LED(LightEmittingDiode)筛选项目和程序、筛选方法、参数测量

和合格判定。

本标准适用于空间科学照明用额定功率1W和1W以上封装的单芯LED的筛选，其他功率级别

的LED也可参照执行。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文

件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

GB/T24824—2009普通照明用LED模块测试方法

GJB128A—1997半导体分立器件试验方法

GJB4027军用电子元器件破坏性物理分析方法

3总则

3.1被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测，合格的器件可参加筛选。筛选按规定

的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。

3.2被筛选器件应逐个编号，并在每次测试时记录测试数据。筛选结束后，应编写筛选统计表，格式参

见附录A,器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件。

3.3测试如有异常，应记录异常的发生时间和器件编号。

3.4当筛选剔除率超过20%时，应判批次不合格。当出现功能失效时，应按照GJB4027进行失效分

析,如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格。

4筛选项目和程序

筛选按表1规定的项目和程序进行，完成每个项目之后，剔除不合格产品。

表1筛选项目和程序

序号筛选项目筛选方法

1外观检查见5.1

2参数测量见5.2

3恒定加速度见5.3

4粒子碰撞噪声检测(FIND)见5