GB/T 47857-2026 空间环境 宇航用电子元器件单粒子烧毁试验方法
GB/T 47857-2026 Space environment—Test method of single event burn-out for aerospace electronic components
基本信息
本文件适用于功率金属氧化物半导体场效晶体管、绝缘栅双极晶体管、高电子迁移率晶体管、双极型功率晶体管、功率二极管等宇航用电子元器件单粒子烧毁的地面模拟试验。
发布历史
-
2026年07月
文前页预览
研制信息
- 起草单位:
- 中国科学院国家空间科学中心、北京卫星环境工程研究所、中国空间技术研究院、西安电子科技大学、哈尔滨工业大学、中国电子产品可靠性与环境试验研究所[(工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)]、湖南融创微电子股份有限公司、西安龙飞电气技术有限公司
- 起草人:
- 马英起、沈自才、梁亚楠、王英豪、于庆奎、季启政、郑雪峰、王天琦、张欣、李昌宏、马腾、刘祥远、张园园、康玄武、刘新宇
- 出版信息:
- 页数:24页 | 字数:35 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS49020
CCSV.06
中华人民共和国国家标准
GB/T47857—2026
空间环境宇航用电子元器件单粒子烧毁
试验方法
Spaceenvironment—Testmethodofsingleeventburn-outforaerospace
electroniccomponents
2026-07-02发布2026-11-01实施
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T47857—2026
目次
前言
…………………………Ⅲ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
缩略语和符号
4……………2
缩略语
4.1………………2
符号
4.2…………………2
一般要求
5…………………2
试验室环境
5.1…………………………2
仪器与设备
5.2…………………………2
辐射安全与防护
5.3……………………2
静电防护
5.4……………2
试验分类和目标
6…………………………3
试验分类
6.1……………3
试验目标
6.2……………3
试验样品
7…………………3
选取
7.1…………………3
开帽
7.2…………………3
保形涂层去除
7.3………………………3
数量要求
7.4……………3
辐照源
8……………………3
重离子
8.1………………3
质子
8.2…………………4
激光
8.3…………………4
试验系统
9…………………4
概述
9.1…………………4
真空系统如需要
9.2()…………………4
试验系统
9.3DUT………………………5
电路测试系统
9.4………………………5
线缆
9.5…………………6
开关如需要
9.6()………………………6
三维移动机构
9.7………………………6
辐照监测系统
9.8………………………6
Ⅰ
GB/T47857—2026
试验要求
10…………………6
试验流程
11…………………6
评估试验流程
11.1………………………6
验证试验流程
11.2………………………7
试验步骤
12…………………8
辐照源的选择
12.1………………………8
电路调试
12.2……………8
电学性能参数
12.3………………………9
试验状态
12.4……………9
试验操作
12.5……………9
数据处理
13…………………9
截面面积
13.1……………9
安全工作区域
13.2………………………9
试验文件
14………………10
试验前文件
14.1………………………10
试验过程记录
14.2……………………10
试验后文件
14.3………………………10
附录资料性我国常用试验装置及其性能
A()…………11
串列静电加速器
A.1…………………11
回旋加速器
A.2………………………11
质子重离子同步加速器
A.3…………12
质子回旋加速器装置
A.450MeV……………………13
质子加速器装置
A.560MeV…………13
质子加速器装置
A.6100MeV………………………13
质子加速器装置
A.7200MeV………………………13
单粒子效应激光试验测试装置
A.8…………………14
附录资料性激光单粒子烧毁试验原理及方法
B()……………………15
单粒子效应脉冲激光模拟试验原理概述
B.1…………15
光子吸收主要机制
B.2…………………15
激光能量换算
B.3………………………16
E与值的对应关系
B.4effLET…………16
参考文献
……………………17
Ⅱ
GB/T47857—2026
前言
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
。。
本文件由中国科学院提出
。
本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会归口
(SAC/TC425)。
本文件起草单位中国科学院国家空间科学中心北京卫星环境工程研究所中国空间技术研究院
:、、、
西安电子科技大学哈尔滨工业大学中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子
、、[(
第五研究所中国赛宝实验室湖南融创微电子股份有限公司西安龙飞电气技术有限公司
)()]、、。
本文件主要起草人马英起沈自才梁亚楠王英豪于庆奎季启政郑雪峰王天琦张欣李昌宏
:、、、、、、、、、、
马腾刘祥远张园园康玄武刘新宇
、、、、。
Ⅲ
GB/T47857—2026
空间环境宇航用电子元器件单粒子烧毁
试验方法
1范围
本文件描述了宇航用电子元器件单粒子烧毁的试验方法包括一般要求试验分类和目标试验样
,、、
品辐照源试验系统试验要求试验流程试验准备试验步骤数据处理和试验文件等
、、、、、、、。
本文件适用于功率金属氧化物半导体场效晶体管绝缘栅双极晶体管高电子迁移率晶体管双极
、、、
型功率晶体管功率二极管等宇航用电子元器件单粒子烧毁的地面模拟试验
、。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文
。,
件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于
,;,()
本文件
。
电离辐射防护与辐射源安全基本标准
GB18871
航天电子产品静电防护要求
GB/T32304
航天术语空间环境
GB/T32452
空间环境宇航用半导体器件单粒子效应脉冲激光试验方法
GB/T43967
3术语和定义
界定的以及下列术语和定义适用于本文件
GB/T32452。
31
.
单粒子烧毁singleeventburn-outSEB
;
单个粒子质子中子或重离子等入射功率金属氧化物半导体场效应晶体管等电子
(、)--(MOSFET)
器件通过电离作用导致器件结雪崩击穿并烧毁器件的效应
,PN。
来源
[:GB/T32452—2025,6.7.3]
32
.
线性能量传输linearenergytransferLET
;
入射粒子在物质内穿过单位距离损失的辐射能量
。
注单位为兆电子伏平方厘米每克2-1本质上等同于材料密度归一化的阻止本领
:(MeV·cm·g),。
来源
[:GB/T32452—2025,6.7.13]
33
.
截面crosssection
入射粒子与靶物质碰撞发生预期事件的概率
。
注1严格地说截面也与入射粒子的角度相关
:,。
1
定制服务
推荐标准
- GB/T 4070-1996 荧光粉性能试验方法 1996-09-09
- GB/T 16528-1996 压敏电阻器用氧化锌陶瓷材料 1996-09-09
- GB/T 16530-1996 单模纤维光学器件回波损耗偏振依赖性测量方法 1996-09-09
- GB/T 3389.1-1996 铁电压电陶瓷词汇 1996-09-09
- GB/T 5080.6-1996 设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 1996-09-09
- GB/T 16532-1996 通信设备清晰度DRT法评价用语音材料库 1996-09-09
- GB/T 4073-1996 荧光粉牌号 1996-09-09
- GB/T 16540-1996 声学 在0.5~15MHz频率范围内的超声场特性及其测量水听器法 1996-09-09
- GB/T 16529-1996 光纤光缆接头 第1部分:总规范 构件和配件 1996-09-09
- GB/T 16527-1996 硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范 1996-09-09