YS/T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
YS/T 1600-2023 Determination of Trace Impurity Element Content in Silicon Carbide Single Crystals Using Plasma-Based Mass Spectrometry
行业标准-有色金属
简体中文
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
YS/T 1600-2023
标准类型
行业标准-有色金属
标准状态
现行
发布日期
2023-04-21
实施日期
2023-11-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
-
适用范围
本文件适用于碳化硅单晶中杂质元素含量的测定。
发布历史
-
2023年04月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- 起草人：
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
推荐标准
- CY/T 245-2021 印刷产品智能设计与仿真指南 2021-09-22
- CY/T 29-2021 骑马订装书刊要求 2021-09-22
- CY/T 241-2021 印刷智能制造术语 2021-09-22
- CY/T 239-2021 ISLI数据质量检测 2021-09-22
- CY/T 247-2021 线装书籍要求 2021-09-22
- CY/T 242-2021 印刷智能工厂参考模型 2021-09-22
- CY/T 243-2021 印刷智能工厂构建规范 2021-09-22
- CY/T 240-2021 ISLI与CNONIX数据互通 2021-09-22
- CY/T 248-2021 印刷类柔性透明薄膜电子器件质量要求 2021-09-22
- CY/T 244-2021 印刷智能工厂 制造执行系统（MES）功能体系结构 2021-09-22