QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
QJ 2689-1994 X-ray photography inspection method for excess matter in electronic components
行业标准-航天
中文(简体)
现行
页数：7页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
QJ 2689-1994
标准类型
行业标准-航天
标准状态
现行
发布日期
1994-06-24
实施日期
1994-12-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1994年06月
研制信息
- 起草单位：
- 中国航天工业总公司五院和二院六九九厂
- 起草人：
- 夏泓、戴俊、刘世才、孙耀康
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
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