QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
QJ 2689-1994 X-ray photography inspection method for excess matter in electronic components
行业标准-航天
中文(简体)
现行
页数：7页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
QJ 2689-1994
标准类型
行业标准-航天
标准状态
现行
发布日期
1994-06-24
实施日期
1994-12-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1994年06月
研制信息
- 起草单位：
- 中国航天工业总公司五院和二院六九九厂
- 起草人：
- 夏泓、戴俊、刘世才、孙耀康
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB22/T 1721-2012 林业木材加工劳动定额 2012-12-21
- DB22/T 1697-2012 饲料中硝呋烯腙的测定 液相色谱-质谱/质谱法 2012-12-21
- DB22/T 1750-2012 芽用大豆 2012-12-21
- DB22/T 1732-2012 地理标志产品 集安鸭绿江咸鸭蛋 2012-12-21
- DB22/T 45-2012 劳动防寒帽 2012-12-21
- DB22/T 1734-2012 林下北五味子栽培技术规程 2012-12-21
- DB53/T 447.9-2012 BMY牛 第9部分：疫病防治规范 2012-12-01
- DB22/T 1714-2012 汽车操纵踏板力与行程检测仪通用技术条件 2012-12-21
- DB22/T 1694-2012 氯化镍中钴、铜、铁、铅、锌、钙、镁、锰、镉、铬、钠含量的测定 电感耦合等离子体光谱法 2012-12-21
- DB22/T 1707-2012 用能单位供配电系统节能监测 2012-12-21