QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
QJ 2689-1994 X-ray photography inspection method for excess matter in electronic components
行业标准-航天
中文(简体)
现行
页数：7页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
QJ 2689-1994
标准类型
行业标准-航天
标准状态
现行
发布日期
1994-06-24
实施日期
1994-12-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1994年06月
研制信息
- 起草单位：
- 中国航天工业总公司五院和二院六九九厂
- 起草人：
- 夏泓、戴俊、刘世才、孙耀康
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/ZSYS 0007-2022 中山传统名菜 黄圃腊味煲仔饭 2022-05-24
- T/FJYHXH 07-2022 福建省花艺游休闲区门益票成本核算与收费规范 2022-11-16
- T/WHCIA T/WHCIA01-2020 智慧工地集成应用与评价标准 2020-09-28
- T/QGCML 2131-2023 数据安全风险评估规范 2023-11-09
- T/HDYTA 003-2023 游艇评估服务规范 2023-05-15
- T/TTXSPHYXH 001.4-2022 天台山云雾茶生产技术规程 第4部分：商品茶 2022-12-10
- T/ZS 0341-2022 社区信用积分服务规范 2022-10-08
- T/CIET 133-2023 品牌口碑指数评价规范 2023-06-28
- T/JMBX 0135-2021 台山大米 2021-03-15
- T/YNFS 008-2023 松毛虫质型多角体病毒生防制剂林间施用技术规程 2024-03-06