GB/T 30703-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则

GB/T 30703-2014 Microbeam analysis—Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

国家标准 中文简体 现行 页数:42页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 30703-2014
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2014-06-09
实施日期
2014-12-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)技术进行晶体取向测量的指南,使测量数据具有较高的可靠性和重复性,本标准确立了试样制备、仪器配置、校正以及数据采集的一般原则。
本标准适用于EBSD对块状晶体样品的晶粒取向分析。

发布历史

研制信息

起草单位:
上海发电设备成套设计研究院、宝钢集团中央研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人:
张作贵、田青超、陈家光、曾毅
出版信息:
页数:42页 | 字数:74 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS71.040.50

G04

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT307032014ISO241732009

微束分析电子背散射衍射取向

分析方法导则

MicrobeamanalsisGuidelinesfororientationmeasurementusinelectron

yg

backscatterdiffraction

(:,)

ISO241732009IDT

2014-06-09发布2014-12-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—/:

GBT307032014ISO241732009

目次

前言…………………………Ⅰ

引言…………………………Ⅱ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4EBSD设备………………6

5操作条件…………………7

6EBSP指数标定所需的校正……………11

7分析过程…………………14

8测量不确定度……………14

9分析结果的发布…………………………15

()………………

附录A资料性附录EBSD的工作原理16

()………………

附录规范性附录的试样制备

BEBSD17

()、…………

附录资料性附录晶体学标定及其他与相关的有用资料

CEBSPEBSD22

参考文献……………………37

/—/:

GBT307032014ISO241732009

前言

本标准按照/—给出的规则起草。

GBT1.12009

本标准使用翻译法等同采用国际标准::《微束分析电子背散射衍射取向测定方法

ISO241732009

导则》。

与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:

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