GB/T 30703-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则
GB/T 30703-2014 Microbeam analysis—Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
国家标准
中文简体
现行
页数:42页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 30703-2014
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2014-06-09
实施日期
2014-12-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)技术进行晶体取向测量的指南,使测量数据具有较高的可靠性和重复性,本标准确立了试样制备、仪器配置、校正以及数据采集的一般原则。
本标准适用于EBSD对块状晶体样品的晶粒取向分析。
本标准适用于EBSD对块状晶体样品的晶粒取向分析。
发布历史
-
2014年06月
研制信息
- 起草单位:
- 上海发电设备成套设计研究院、宝钢集团中央研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所
- 起草人:
- 张作贵、田青超、陈家光、曾毅
- 出版信息:
- 页数:42页 | 字数:74 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS71.040.50
G04
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT307032014ISO241732009
微束分析电子背散射衍射取向
分析方法导则
—
MicrobeamanalsisGuidelinesfororientationmeasurementusinelectron
yg
backscatterdiffraction
(:,)
ISO241732009IDT
2014-06-09发布2014-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
/—/:
GBT307032014ISO241732009
目次
前言…………………………Ⅰ
引言…………………………Ⅱ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3术语和定义………………1
4EBSD设备………………6
5操作条件…………………7
6EBSP指数标定所需的校正……………11
7分析过程…………………14
8测量不确定度……………14
9分析结果的发布…………………………15
()………………
附录A资料性附录EBSD的工作原理16
()………………
附录规范性附录的试样制备
BEBSD17
()、…………
附录资料性附录晶体学标定及其他与相关的有用资料
CEBSPEBSD22
参考文献……………………37
/—/:
GBT307032014ISO241732009
前言
本标准按照/—给出的规则起草。
GBT1.12009
本标准使用翻译法等同采用国际标准::《微束分析电子背散射衍射取向测定方法
ISO241732009
导则》。
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
定制服务
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