GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
GB/T 38532-2020 Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
国家标准
中文简体
现行
页数:22页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 38532-2020
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2020-03-06
实施日期
2021-02-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
注1: 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2: 该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的晶粒尺寸测量。
注3: 对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。
注1: 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2: 该方法还可用于一些复杂材料(如双相材料)的晶粒尺寸测量。
注3: 对变形程度较大的试样进行分析时,需谨慎处理结果。
发布历史
-
2020年03月
研制信息
- 起草单位:
- 中国宝武钢铁集团中央研究院、上海发电设备成套设计研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所
- 起草人:
- 姚雷、张作贵、曾毅、郑芳
- 出版信息:
- 页数:22页 | 字数:37 千字 | 开本: 大16开
内容描述
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