GB/T 38532-2020 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定

GB/T 38532-2020 Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

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基本信息

标准号

GB/T 38532-2020

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

G04 基础标准与通用方法

国际标准分类号（ICS）

71.040.40 化学分析

发布日期

2020-03-06

实施日期

2021-02-01

发布单位/组织

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

归口单位

全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

适用范围

本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
注1：使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2：该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。
注3：对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。