GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
GB/T 38532-2020 Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
国家标准
中文简体
现行
页数：22页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 38532-2020
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2020-03-06
实施日期
2021-02-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
适用范围
本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
注1： 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2： 该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。
注3： 对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。
注1： 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2： 该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。
注3： 对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。
发布历史
-
2020年03月
研制信息
- 起草单位：
- 中国宝武钢铁集团中央研究院、上海发电设备成套设计研究院、中国科学院上海硅酸盐研究所
- 起草人：
- 姚雷、张作贵、曾毅、郑芳
- 出版信息：
- 页数：22页 | 字数：37 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
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