YS/T 37.2-2007 高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量
YS/T 37.2-2007 High pure germanium dioxide—Determination of silicon content—Molybdenum blue spectrophotomertic method
基本信息
标准号
YS/T 37.2-2007
标准类型
行业标准-有色金属
标准状态
被代替
发布日期
2007-04-13
实施日期
2007-10-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家发展和改革委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
本部分规定了高纯二氧化锗中硅含量的测定方法。
本部分适用于高纯二氧化锗中硅含量的测定。测定范围:质量分数0.00001%~0.0001%。
本部分适用于高纯二氧化锗中硅含量的测定。测定范围:质量分数0.00001%~0.0001%。
发布历史
-
1992年03月
-
2007年04月
-
2018年10月
研制信息
- 起草单位:
- 北京有色金属研究总院
- 起草人:
- 李凤娥、刘英、赵春华、刘红
- 出版信息:
- 页数:5页 | 字数:8 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M:低气压 2008-12-30
- GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合 2008-12-30
- GB/T 2423.60-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验U:引出端及整体安装件强度 2008-12-30
- GB/T 2423.25-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 2008-12-30
- GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 2008-12-30
- GB/T 2424.26-2008 电工电子产品环境试验 第3部分:支持文件和导则 振动试验选择 2008-12-30
- GB/T 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验J及导则:长霉 2008-12-30
- GB/T 2639-2008 玻璃输液瓶 2008-12-30
- GB/T 2423.26-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 2008-12-30
- GB/T 2424.15-2008 电工电子产品环境试验 温度/低气压综合试验导则 2008-12-30