GB/T 2423.26-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BM：高温/低气压综合试验

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中华人民共和国国家标准

／—／：

犌犅犜２４２３．２６２００８犐犈犆６００６８２４１１９７６

代替／—

ＧＢＴ２４２３．２６１９９２

电工电子产品环境试验

第部分：试验方法

２

试验／：高温／低气压综合试验

犣犅犕

—

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狉狅犱狌犮狋狊

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（：，—

ＩＥＣ６８２４１１９７６Ｂａｓｉｃｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌｔｅｓｔｉｎｒｏｃｅｄｕｒｅｓ

ｇｐ

：—／：／，）

Ｐａｒｔ２ＴｅｓｔｓＴｅｓｔＺＢＭＣｏｍｂｉｎｅｄｄｒｈｅａｔｌｏｗａｉｒｒｅｓｓｕｒｅｔｅｓｔｓＩＤＴ

ｙｐ

２００８１２３０发布２００９１００１实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

／—／：

犌犅犜２４２３．２６２００８犐犈犆６００６８２４１１９７６

目次

前言Ⅲ

１引言１

２目的２

３一般说明２

４试验设备２

５严酷度等级２

６预处理３

７初始检测３

８条件试验３

９中间检测４

１０恢复４

１１最后检测４

１２相关规范中给出的资料４

附录（资料性附录）／标准的组成部分

ＮＡＧＢＴ２４２３７

Ⅰ

／—／：

犌犅犜２４２３．２６２００８犐犈犆６００６８２４１１９７６

前言

／是／标准的第部分。／标准的组成部分见资料性附录。

ＧＢＴ２４２３．２６ＧＢＴ２４２３２６ＧＢＴ２４２３ＮＡ

本部分等同采用国际电工委员会：（第一版）《基本环境试验规程第部分：

ＩＥＣ６００６８２４１１９７６２

试验试验／：高温／低气压综合试验》（英文版）及其修订：。为便于使用，本部分做了下列编

ＺＢＭ１１９８３

辑性修改：

———为与新版ＩＥＣ６００６８的标题名称一致，本部分标题名称由“基本环境试验规程”改为“电工电子

产品环境试验”；

———“：本部分”修改为“／—本部分”；

ＩＥＣ６００６８２４１１９７６ＧＢＴ２４２３．２６２００８

———删除了：的前言和序；

ＩＥＣ６８２４１１９７６

———增加了国家标准的前言；

———增加了规范性引用文件一览表的引导语；引用了与国际标准有对应关系的国家标准，并改变了

排列顺序；

———增加了资料性附录“／标准的组成部分”（见附录）。

ＧＢＴ２４２３ＮＡ

本部分代替／—《电工电子产品基本环境试验规程试验／：高温／低气压综

ＧＢＴ２４２３．２６１９９２ＺＢＭ

合试验》。本部分与／—相比主要变化如下：

ＧＢＴ２４２３．２６１９９２

———／—是参照采用国际电工委员会：（第一版）《基本环境

ＧＢＴ２４２３．２６１９９２ＩＥＣ６００６８２４１１９７６

试验规程第部分：试验试验／：高温／低气压综合试验》（英文版）及其修订：，

２ＺＢＭ１１９８３

本部分是等同采用；

———为与原文一致，本部分将图和图改为图）和图），并置于正文最后；

ＩＥＣ１２１ａ１ｂ

———为与原文编写格式一致，本部分将和合并在一起；、和合

ＩＥＣ４．１．１４．１．２５．１．１５．１．２５．１．３

并在一起；和合并在一起；

８．１．１８．１．２

———本部分表中没有列出与温度、气压对应的高度值，三者的关系见专门标准；增加了以

１ｍｂａｒ

为单位的气压值；并改变了最后两行参数的排顺；

———本部分８．２．８压力升高期间不要求温度控制。

本部分的附录ＮＡ为资料性附录。

本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会（／）提出并归口。

ＳＡＣＴＣ８

本部分起草单位：广州电器科学研究院。

本部分主要起草人：胡利芬。

本部分所代替部分的历次版本发布情况为：

————；／—。

ＧＢ２４２３．２６１９８１ＧＢＴ２４２３．２６１９９２

Ⅲ

／—／：

犌犅犜２４２３．２６２００８犐犈犆６００６８２４１１９７６

电工电子产品环境试验

第部分：试验方法

２

试验／：高温／低气压综合试验

犣犅犕

１引言

１．１概述

／的本部分是关于散热和非散热试验样品高温（温度渐变或突变）和低气压综合试验，见

ＧＢＴ２４２３

和。

８．２．２８．２．８

本试验目的是确定元件、设备和其他产品对其贮存和使用中遇到的高温低气压综合环境的适

应性。

本综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的

试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。

本部分规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品。

１．２低气压

本试验程序适用于气压大于１ｋＰａ的压力试验。当气压小于或等于１ｋＰａ时，可不考虑试验程序

的内容。

本部分没有指明高度、压力和温度的关系。三者的关系见专门标准。

１．３温度

／试验中有关非散热试验样品试验和散热试验样品试验应用对比的指导适用于

１．３．１ＧＢＴ２４２３．２Ｂ

本部分。

注：非散热试验样品的定义按／中相关规定，不应在低气压下测量其最热点的温度。

ＧＢＴ２４２１

／试验中散热试验样品应该优先在无强迫空气循环的试验箱中进行试验。

１．３．２ＧＢＴ２４２３．２Ｂ

１．４规范性引用文件

下列文件中的条款通过／的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文

ＧＢＴ２４２３

件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成

协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本

部分。

／电工电子产品环境试验第部分：总则（／—，：）

ＧＢＴ２４２１１ＧＢＴ２４２１１９９９ｉｄｔＩＥＣ６００６８１１９８８

／电工电子产品环境试验第部分：试验方法试验：高温（／—

ＧＢＴ２４２３．２２ＢＧＢＴ２４２３．２

，：，）

２００８ＩＥＣ６８２２２００７ＩＤＴ

／电工电子产品环境试验第部分：试验方法试验：低气压（／—

ＧＢＴ２４２３．２１２ＭＧＢＴ２４２３．２１

，：，）

２００８ＩＥＣ６８２１３１９８３ＩＤＴ

／电工电子产品环境试验第部分：试验方法试验：温度变化（／—

ＧＢＴ２４２３．２２２ＮＧＢＴ２４２３．２２

１）

，：，）

２００２ＩＥＣ６８２１４１９８４ＩＤＴ

／电工电子产品环境试验高温低温试验导则（／—，

ＧＢＴ２４２４．１ＧＢＴ２４２４．１２００５ＩＥＣ６００６８３

：，）

１１９７４ＩＤＴ

／电工电子产品基本环境试验规程温度／低气压综合试验导则（／—

ＧＢＴ２４２４．１５ＧＢＴ２４２４．１５

，：，）

２００８ＩＥＣ６８３２１９７６ＩＤＴ

）引用文件中没有列出该标准，但正文中引用了，见的注。

１ＩＥＣ６００６８２４１８．２．２

１

／—／：

犌犅犜２４２３．２６２００８犐犈犆６００６８２４１１９７６

２目的

提供标准试验程序以确定元件、设备或其他产品在高温／低气压综合环境使用和／或贮存的适应性。

３一般说明

本试验是／试验或试验和／试验的综合。

ＧＢＴ２４２３．２ＢｂＢｄＧＢＴ２４２３．２１Ｍ

试验中，试验样品首先应经受相关规范规定的严酷度等级的高温试验。如果试验过程中试验样品

要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常工作。然后在温度保持规定值的情况下，将试验

箱压力降到相关规范规定的试验压力。将此温度、压力条件保持规定时间。图）和图）是这一程序

１ａ１ｂ

的曲线图。

４试验设备

４．１试验箱

试验箱应能保持／试验（非散热试验样品）或试验（散热试验样品）和

ＧＢＴ２４２３．２ＢｂＢｄ

／试验中规定的试验条件。但在温度和压力变化期间，对箱壁的温度要求不适用。

ＧＢＴ２４２３．２１Ｍ

恢复压力时，应避免试验箱的辅助设备、装置和引入的空气对试验箱内空气产生污染。

４．２安装

散热试验样品进行试验时，其安装应符合／试验中规定的要求。

ＧＢＴ２４２３．２Ｂｄ

５严酷度等级

５．１一般要求

相关规范应规定由温度、气压和暴露持续时间表示的试验严酷度等级。

温度、低气压值及其容差和持续时间应符合／试验或试验和／试

ＧＢＴ２４２３．２ＢｂＢｄＧＢＴ２４２３．２１

验中的规定。对于这一综合试验，不管试验箱大小如何，温度的容差允许更大些（时为

Ｍ犜１００℃

≤

，时为）

±３℃１００℃犜２００℃