GB/T 15757-2002 产品几何量技术规范(GPS)表面缺陷 术语、定义及参数
GB/T 15757-2002 Geometrical product specifications(GPS)—Surface imperfections—Terms, definitions and parameters
基本信息
发布历史
-
2002年07月
研制信息
- 起草单位:
- 中国机械科学研究院、时代集团公司、中国计量科学研究院、北京计量科学研究所、沈阳601所
- 起草人:
- 王欣玲、王忠滨、高思田、吴迅、王肇强、赵有祥
- 出版信息:
- 页数:16页 | 字数:30 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS17.040.20
.104荡黔
中华人民共和国国家标准
GB/T15757-2002
eqvISO8785:1998
产品几何量技术规范(GPS)
表面缺陷术语、定义及参数
GeometricalProductSpecifications(GPS)一
Surfaceimperfections-
Terms,definitionsandparameters
2002一07一15发布2003一01一01实施
中华人民共和国发布
国家质量监督检验检疫总局
GB/T15757-2002
前言
本标准是根据国际标准ISO8785:1998《产品几何量技术规范(GPS>表面缺陷术语、定义及参
数)))(1998年版),对GB/T15757-1995《表面缺陷术语、定义及参数》进行修订,在技术内容上与
ISO8785:1998等效,编写规则上与之等同。
本标准主要在以下内容修订:
—增加了缩孔、(凹面)瓢曲、(凸面)瓢曲定义的相应图示;
—对表面缺陷的特性和参数的代号做了改动。
本标准与ISO8785的区别:
—略去了ISO8785中的导言,与国家标准的编写规则相协调;
—略去了ISO8785中的附录B(参考目录)。
本标准自实施之日起,同时代替GB/T15757--1995,
本标准的附录A是提示的附录。
本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:中国机械科学研究院、时代集团公司、中国计量科学研究院、北京计量科学研究
所、沈阳601所。
本标准主要起草人:王欣玲、王忠滨、高思田、吴迅、王肇强、赵有祥
GB/'r15757-2002
ISO前言
ISO(国际标准化组织)是一个世界范围的国家标准化组织(ISO成员)的联合会,国际标准的制定
工作通常由ISO各技术委员会进行。每个成员组织,对某一主题的技术委员会感兴趣,就有权参加该委
员会工作,其他与ISO协作的政府间或非政府间的国际组织也可以参加工作。ISO与IEC(国际电工委
员会)在所有有关电工技术标准化的内容上进行密切合作。
由技术委员会提出的国际标准草案,散发给各成员组织,由各成员组织投票表决,至少需要75%的
赞成票才能作为国际标准公布。
国际标准ISO8785是由ISO/TC213产《品尺寸和几何技术规范》技术委员会制定的。
本标准附录A是提示的附录。
中华人民共和国国家标准
产品几何量技术规范(GPS)
表面缺陷术语、定义及参数GB/T15757-2002
eqvISO8785:1998
GeometricalProductSpecifications(GPS)一代替GB/T15757-1995
Surfaceimperfections-
Terms.definitionsandparameters
范围
本标准规定了有关表面缺陷的术语,允许表面缺陷的程度及测量表面缺陷方法的技术规范等内容。
本标准适用于技术文件、技术图纸和科技出版物等。
本标准的定义不涉及表面粗糙度和表面波纹度。
本标准没有指出是否要进行表面缺陷的评定,这取决于具体的应用或表面的功能。
对于特殊的应用和制造工艺,在必要情况下可附加专用的术语和定义。这些术语和定义将在相关
的标准中规定。
几种特殊表面缺陷将在其他标准中定义。
2一般术语与定义
基准面referencesurface
用以评定表面缺陷参数的一个几何表面。
注
1基准面通过除缺陷之外的实际表面的最高点,且与由最小二乘法确定的表面等距。
2基准面是在一定的表面区域或表面区域的某有限部分上确定的,这个区域和单个缺陷的尺寸大小有关。该区
域的大小须足够用来评定缺陷,同时在评定时能控制表面形状误差的影响
3基准面具有几何表面形状,它的方位和实际表面在空间与总的走向相一致
2.2表面缺陷评定区域(A)surfaceimperfectionevaluationarea(A)
工件实际表面的局部或全部,在该区域上,检验和确定表面缺陷。
表面结构surfacetexture
出自几何表面的重复或偶然的偏差,这些偏差形成该表面的三维形貌。
注:表面结构包括在有限区域上的粗糙度、波纹度、纹理方向、表面缺陷和形状误差
2.4表面缺陷(SIM)surfaceimperfection(SIM)
在加工、储存或使用期间,非故意或偶然生成的实际表面的单元体、成组的单元体、不规则体
注
1建议不要将“表面瑕疵”的术语用于本标准定义的表达中。
2这些单元体或不规则体的类型,明显区别于构成一个粗糙度表面的那些单元体或不规则体。
3在实际表面上存在缺陷并不表示该表面不可用。缺陷的可接受性取决于表面的用途或功能,并由适当的项目
来确定,即长度、宽度、深度、高度、单位面积上的缺陷数等
中华人民共和国国家质f监督检验检疫总局2002-07-15批准2003一01一01实施
BG/'f15757-2002
3表面缺陷的特征和参数
注:表面上允许的表面缺陷参数和特征的最大值,是一个规定的极限值,零件的表面缺陷不允许超过这个极限值
例如:SIM=60
式中SIM是表面缺陷数,其定义见3.7条
SIM/A=60/1m-z
SIM/A=10/50mm“
式中A是表面缺陷评定区域,其定义见2.2条
3.1表面缺陷长度(SIM.)surfaceimperfectionlength(SIM)
平行于基准面测得的表面缺陷最大尺寸。
3.2表面缺陷宽度(SIM)surfaceimperfectionwidth(SIM.)
平行于基准面且垂直于表面缺陷长度测得的表面缺陷最大尺寸
3.3单一表面缺陷深度(SIM,e)singlesurfaceimperfectiondepth(SIM,d)
从基准面垂直测得的表面缺陷最大深度。
3.3.1混合表面缺陷深度(SIM,d)combinedsurfaceimperfectiondepth(SIM,d)
从基准面垂直测得的该基准面和表面缺陷中的最低点之间的距离
3.4单一表面缺陷高度(SIM,,,)singlesurfaceimperfectionheight(SIM,h)
从基准面垂直测得的表面缺陷最大高度。
3.4.1混合表面缺陷高度(SIM.,,)combinedsurfaceimperfectionheight(SIM,h)
从基准面垂直测得的该基准面和表面缺陷中的最高点之间的距离。
3.5表面缺陷面积(SIM)surfaceimperfectionarea(SIM)
单个表面缺陷投影在基准面上的面积
3.6表面缺陷总面积(SIM,)totalsurfaceimperfectionarea(SIMJ
在商定的判别极限内,各单个表面缺陷面积之和。
注
I表面缺陷总面积的计算公式:
SIM,=SIM+SIM,+.0+SIM
2使用判别极限时,采用的尺寸判别条件规定了表面缺陷特征的最小尺寸,在确定SIM,和SIM,值时,小于该判
别条件的表面缺陷被忽略
3.7表面缺陷数(SIM)surfaceimperfectionnumber(SIM)
在商定判别极限范围内,实际表面上的表面缺陷总数。
3-8单位面积上表面缺陷数(SIM/A)numberofsurfaceimperfectionsperunitarea(SIM./A)
在给定的评定区域面积A内。表面缺陷的个数
4表面缺陷的类型
4.1凹缺陷recession
向内的缺陷。
Gs/T15757-2002
沟槽groove
具有一定长度的、底部圆弧形的或平的凹缺陷(见图1)0
图1
4.1.2擦痕scratch
形状不规则和没有确定方向的凹缺陷(见图2)0
图2
4.1.3破裂crack
由于表面和基体完整性的破损造成具有尖锐底部的条状缺陷(见图3)。
图3
4.1.4毛孔pore
尺寸很小、斜壁很陡的孔穴,通常带锐边,孔穴的上边缘不高过基准面的切平面(见图4),
图4
Gs/T15757-2002
4.1.5砂眼blowhole
由于杂粒失落、侵蚀或气体影响形成的以单个凹缺陷形式出现的表面缺陷(见图5)0
图5
4.1.6缩孔shrinkagehole
铸件、焊缝等在凝固时,由于不均匀收缩所引起的凹缺陷(见图6)0
图6
4.1.7裂缝、缝隙、裂隙fissure,chink,crevice
条状凹缺陷,呈尖角形,有很浅的不规则开口(见图7)
图7
4.1.8缺损wane
在工件两个表面的相交处呈圆弧状的缺陷(见图8)
图8
GB/'r15757-2002
4.1.9(凹面)甄曲(concave)buckle
板材表面由于局部弯曲形成的凹缺陷(见图9).
图9
4.1.10窝陷dent
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