GB/T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子

GB/T 25186-2010 Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

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基本信息

标准号
GB/T 25186-2010
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标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2010-09-26
实施日期
2011-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。
本标准适用于基体化学成分单一的样品,其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。

研制信息

起草单位:
信息产业部专用材料质量监督检验中心
起草人:
马农农、何友琴、何秀坤
出版信息:
页数:6页 | 字数:7 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS71.040.40

G04

a雷

GB/T25186—2010/ISO

表面化学分析二次离子质谱

由离子注入参考物质确定

相对灵敏度因子

Surfacechemicalmass

analysis--Secondary—ionspectrometry--

from

Determinationofrelativefactors

sensitivity

referencematerials

ion-implanted

(ISO18114:2003,IDT)

2010-09-26发布201

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18114:2003

GB/T25186—2010/ISO

前言

本标准等同采用ISO

灵敏度因子》。

为了方便使用,本标准做了下列编辑性修改:

——用“本标准”代替“本国际标准”。

本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。

本标准起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心。

本标准主要起草人:马农农、何友琴、何秀坤。

18”4:2003

GB/T25186—2010/ISO

引言

在二次离子质谱分析中,常使用离子注人物质校准仪

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