GB/T 25498.1-2010 电声学 人头模拟器和耳模拟器 第1部分:校准压耳式耳机用耳模拟器
GB/T 25498.1-2010 Electroacoustics—Simulators of human head and ear—Part 1:Ear simulator for the calibration of supra-aural earphones
基本信息
本部分规定的耳模拟器其频带范围为20 Hz~10 000 Hz。
发布历史
-
2010年12月
研制信息
- 起草单位:
- 中国电子科技集团公司第三研究所
- 起草人:
- 韩捷、张伟、姜波、曲林
- 出版信息:
- 页数:11页 | 字数:16 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS17.140.50
A59a宦
中华人民共和国国家标准
GB/T25498.1—2010/IEC
76141987
代替GB/T
电声学人头模拟器和耳模拟器
第1部分:校准压耳式耳机用耳模拟器
headandear——
Electroacoustics--Simulatorsofhuman
simulatorforthecalibrationof
Part1:Earsupra-auralearphones
(IEC60318-1:1998,IDT)
2010—12-01发布201
宰瞀髁鬻瓣警糌瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会“”。
25498.1--2010/IEC60318—1:1998
GB/T
目次
前言………
1范围…··……………。’Ⅱ1
2规范性引用文件……·1
3术语和定义…………‘1
4结构…………………。1
5耳机与耳模拟器的耦合……………。2
6校准……·………………·…………‘‘2
附录A(资料性附录)耳模拟器集总参数电类比网络4
附录B(资料性附录)耳模拟器的特定设计实例…-7
参考文献……··…………’。8
60318—1:1998
GB/T25498.1--2010/IEC
前言
GB/T25498《电声学人头模拟器和耳模拟器》分为7个部分:
——第1部分:校准压耳式耳机用耳模拟器;
——第2部分:校准测听耳机用延伸高频范围临时声耦合器;
——第3部分:校准压耳式测听耳机用声耦合器;
——第4部分:测量插入式耳机用堵塞耳模拟器;
——第5部分:测量带耳塞式耳机助听器和耳塞式耳机用2cm3耦合器;
——第6部分:骨振器测量用力耦合器;
——第7部分:空气传导助听器声学测量用头和躯干模拟器。
本部分为GBIT25498的第1部分。
本部分等同采用IEC
用耳模拟器》(英文版)。
为便于使用,本部分作了下列编辑性修改;
a)用小数点‘.’代替作为小数点的逗号‘,’;
b)删除IEC60318—1:1998的前言。
本部分代替GB/T7614--1987《校准测听耳机用的宽频带型仿真耳》。
本部分与GB/T7614—1987相比主要变化如下:
1.12000的规则增加了“规范性引用文件”一章;
a)本部分根据GB/T
b)本部分的名称由原来的《校准测听耳机用的宽频带型仿真耳》修改为《电声学人头模拟器和
耳模拟器第1部分:校准压耳式耳机用耳模拟器》;
c)第4.1条增加了耳模拟器上端边缘平面与传声器膜片之间距离h尺寸和公差要求;
d)第6章校准内容中增加了环境条件和环境条件允差要求。
本部分附录A和附录B为资料性附录。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
23)。
本部分由全国电声学标准化技术委员会归口(SAC/TC
本部分主要起草单位:中国电子科技集团公司第三研究所。
本部分参加起草单位:湖北省计量测试技术研究院、工业和信息化部电信研究院中国泰尔实验室、
杭州爱华仪器有限公司、红声器材厂(4380)嘉兴分厂。
本部分主要起草人:韩捷、张伟、姜波、曲林。
本部分参加起草人:时根火、朱晓峰、张绍栋、舒国华。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为
定制服务
推荐标准
- T/ZZB 3713-2024 印制电路用高速覆铜箔层压板 2024-06-04
- T/QGCML 4170-2024 高速传输速率TYPEC公头连接器 2024-04-30
- T/ZZB 0069-2016 冲孔式纸质载料带 2016-08-24
- T/CASAS 005-2022 用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体管动态导通电阻测试方法 2022-09-16
- T/CSTE 0626-2024 质量分级及“领跑者”评价要求 光纤激光器 2024-07-29
- T/ZZB 3726-2024 接入网通信激光器 2024-06-19
- T/SZECC 001-2024 新能源车用绝缘栅双极型晶体管(IGBT)技术规范 2024-10-29
- T/COEMA 20O-2024 高功率红外激光准直镜 2024-04-28
- T/QGCML 4572-2024 高精度超洁净晶圆卡爪生产制造规范 2024-08-12
- T/WHHLW 62-2023 IC电磁辐射测试新型TEM小室技术规范 2023-12-13