GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
GB/T 26074-2010 Germanium monocrystal—Measurement of resistivity-DC linear four-point probe
国家标准
中文简体
现行
页数：7页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 26074-2010
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2011-01-10
实施日期
2011-10-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
适用范围
本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。
本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片（简称圆片）的电阻率。测量范围为1×10-3Ω·cm～1×102Ω·cm。
本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片（简称圆片）的电阻率。测量范围为1×10-3Ω·cm～1×102Ω·cm。
发布历史
-
2011年01月
研制信息
- 起草单位：
- 南京中锗科技股份有限公司
- 起草人：
- 张莉萍、焦欣文、王学武、普世坤
- 出版信息：
- 页数：7页 | 字数：11 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
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