SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
SJ/T 11765-2020 Transistor low-frequency noise parameter testing method
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11765-2020
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2020-12-09
实施日期
2021-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
适用范围
适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行
发布历史
-
2020年12月
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研制信息
- 起草单位：
- 工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等
- 起草人：
- 罗宏伟、胡为、王小强 等
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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