SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
SJ/T 11765-2020 Transistor low-frequency noise parameter testing method
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11765-2020
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2020-12-09
实施日期
2021-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
适用范围
适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行
发布历史
-
2020年12月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- 工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等
- 起草人：
- 罗宏伟、胡为、王小强 等
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/XJY 2306-2023 湖南辣椒 辣椒炒肉用辣椒 2023-04-01
- T/CI 221-2023 竹粉作基料种植短裙竹荪技术规 1970-01-01
- T/YNRZ 022-2022 西葫芦绿色栽培技术规程 2022-09-28
- T/GXAS 206-2021 水稻种子中短期储藏技术规程 2021-06-25
- T/ZNZ 026-2020 虾稻共作技术规范 2020-05-15
- T/GARRPA 001-2024 小蚕共育基地建设规范（英文版） 2024-01-11
- T/ZRTZS 04-2022 柘荣太子参种植技术管理规范 2022-11-18
- T/SDYY 106-2022 葡萄花果标准化管理技术规程 2022-01-01
- T/SDDB 010-2022 地理标志产品 山亭花椒 2022-11-15
- T/XWHTHYXH 012-2023 宣和猪饲养管理技术规范 2023-12-29