SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
SJ/T 11765-2020 Transistor low-frequency noise parameter testing method
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11765-2020
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2020-12-09
实施日期
2021-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
适用范围
适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行
发布历史
-
2020年12月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- 工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等
- 起草人：
- 罗宏伟、胡为、王小强 等
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CIET 867-2024 构网型储能电站黑启动技术规范 2024-12-11
- T/CEC 290-2019 背接触单晶硅片技术要求 2019-11-21
- T/JX 068-2024 印染行业节能降碳技术导则 2024-08-08
- T/CNEA 104.5-2021 压水堆承压部件 设备设计制造 第5部分：堆内构件 2021-04-26
- T/CICEIA /CAMS78-2023 内燃机 废气再循环系统冷却管 2023-12-28
- T/CIET 935-2024 光伏微型逆变器集群控制系统功能要求 2024-12-25
- T/CI 568-2024 船舶用氢燃料电池发电系统控制技术要求 2024-11-04
- T/CMEPCA 019-2024 通风恒压机 2024-08-01
- T/SZBX 188-2024 火力发电厂全国产化分散控制系统调试规程 1970-01-01
- T/SDMT 0026-2024 商用车用球墨铸铁曲轴通用技术要求 2024-06-30