JJF 2274-2025 逻辑分析仪校准规范
JJF 2274-2025 Calibration Specification for Logic Analyzers
基本信息
发布历史
-
2025年09月
研制信息
- 起草单位:
- 中国计量科学研究院、中国航天科工集团二院203所
- 起草人:
- 聂梅宁、谢文、田飞
- 出版信息:
- 页数:32页 | 字数:33 千字 | 开本: 大16开
内容描述
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF2274—2025
逻辑分析仪校准规范
CalibrationSpecificationforLogicAnalyzers
2025-09-08发布2026-03-08实施
国家市场监督管理总局发布
JJF2274—2025
逻辑分析仪校准规范
JJF2274—2025
CalibrationSpecificationfor
代替JJG957—2015
LogicAnalyzers
归口单位全国无线电计量技术委员会
:
起草单位中国计量科学研究院
:
中国航天科工集团二院所
203
本规范委托全国无线电计量技术委员会负责解释
JJF2274—2025
本规范主要起草人
:
聂梅宁中国计量科学研究院
()
谢文中国航天科工集团二院所
(203)
田飞中国计量科学研究院
()
参加起草人
:
蒋志清中国计量科学研究院
()
柳国柱中国航天科工集团二院所
(203)
JJF2274—2025
目录
引言
………………………(Ⅱ)
范围
1……………………(1)
引用文件
2………………(1)
术语和计量单位
3………………………(1)
概述
4……………………(1)
计量特性和主要功能
5…………………(1)
定时分析门限电平
5.1———……………(1)
定时分析时间间隔测量
5.2———………(2)
主要功能要求
5.3………………………(2)
校准条件
6………………(2)
环境条件
6.1……………(2)
测量用设备
6.2…………(2)
校准项目和校准方法
7…………………(2)
校准项目
7.1……………(2)
外观及工作正常性检查
7.2……………(3)
门限电平
7.3……………(3)
时间间隔测量
7.4………………………(4)
最小脉冲宽度功能检查
7.5……………(4)
最小毛刺检测宽度功能检查
7.6………(5)
状态时钟最高速率功能检查
7.7………(6)
状态时钟最小脉冲宽度功能检查
7.8…………………(7)
数据建立保持时间窗口功能检查
7.9/………………(8)
校准结果表达
8…………(10)
复校时间间隔
9…………(11)
附录原始记录内页格式
A……………(12)
附录校准证书内页格式
B……………(16)
附录主要项目校准不确定度评定示例
C……………(19)
Ⅰ
JJF2274—2025
引言
国家计量校准规范编写规则通用计量术语及定义
JJF1071—2010《》、JJF1001《》
和测量不确定度评定与表示共同构成支撑本规范编制工作的基础
JJF1059.1—2012《》
性系列规范
。
本规范是对逻辑分析仪检定规程的修订与相
JJG957—2015《》,JJG957—2015
比主要变化的内容包括
,:
编写格式符合国家计量校准规范编写规则的要求
———JJF1071—2010《》;
检定规程修订为校准规范
———;
计量特性改为计量特性和主要功能要求校准项目包含校准和功能检查原规
———,,
程检定项目中定时分析最小脉冲宽度毛刺检测宽度状态分析状态时钟最高速
:、,:
率状态时钟最小脉冲宽度数据建立保持时间窗口T改为功能检查项目
、、/(W);
毛刺检测宽度改为最小毛刺检测宽度由改为
———,1ns400ps~4ns。
本规范历次版本发布情况
:
———JJG957—2015;
———JJG957—2000。
Ⅱ
JJF2274—2025
逻辑分析仪校准规范
1范围
本规范适用于逻辑分析仪的校准其他具有逻辑分析仪功能的仪器亦可参照本规范
,
校准
。
2引用文件
本规范无引用文件
。
3术语和计量单位
门限电平
3.1thresholdlevel
逻辑分析仪接收符合一定阈值的电平后仪器会作出高电平或低电平响应的电平单
,
位
:V。
4概述
逻辑分析仪主要用于数字电路硬件及软件调试它具有多数据通道与多个同步时钟
,
的特点可以方便分析数字电路的逻辑时序
,。
逻辑分析仪的工作过程就是数据采集存储触发显示的过程见图采用数
、、、,1。
字存储技术可将数据采集工作和显示工作分开进行
,。
图逻辑分析仪原理结构框图
1
5计量特性和主要功能
定时分析门限电平
5.1———
电平范围
a):-10V~+10V;
最大允许误差门限电平设定值
b):±(1%×+35mV)。
1
JJF2274—2025
定时分析时间间隔测量
5.2———
时间间隔测量能力
a):≥1ns;
最大允许误差读数个采样周期
b):±(0.01%×+1)。
主要功能要求
5.3
定时分析最小脉冲宽度
5.3.1———:200ps。
定时分析最小毛刺检测宽度
5.3.2———:400ps~4ns。
状态分析状态时钟最高速率
5.3.3———:2GHz。
状态分析状态时钟最小脉冲宽度
5.3.4———:200ps。
状态分析数据建立保持时间窗口T
5.3.5———/(W):180ps~10ns。
注:以上技术指标仅供参考,不作为符合性判定依据。
6校准条件
环境条件
6.1
环境温度
6.1.1:(23±5)℃。
相对湿度
6.1.2:≤80%。
供电电源
6.1.3:(220±11)V,(50±1)Hz。
其他周围无影响仪器正常工作的电磁干扰和机械振动
6.1.4:。
测量用设备
6.2
直流电压源
6.2.1
电压范围
1):-10V~+10V;
最大允许误差设定值
2):±(0.1%×+5mV)。
脉冲信号发生器
6.2.2
频率范围最大允许误差-4-6
1):100MHz~2GHz,:±1×10~±1×10;
最小脉冲宽度
2):180ps~10ns;
脉冲幅度最大允许误差设定值
3):50mV~2V,:±(2%×+20mV);
输出通道数
4):≥2;
通道间延迟
5):0ns~200ns。
注:方波由脉冲波调整得到。
示波器
6.2.3
上升时间
1):30ps~2ns;
时间间隔测量最大允许误差读数
2):0.01ns~1μs,:±(0.003%×+10ps);
幅度测量最大允许误差
3):50mV~5V,:±3%。
7校准项目和校准方法
校准项目
7.1
校准项目及功能性检查如表所示
,1。
2
JJF2274—2025
表1校准及功能性检查项目
序号校准项目名称
外观及工作正常性检查
1
门限电平
2
时间间隔测量
3
最小脉冲宽度功能检查
4
最小毛刺检测宽度功能检查
5
状态时钟最高速率功能检查
6
状态时钟最小脉冲宽度功能检查
7
数据建立保持时间窗口功能检查
8/
外观及工作正常性检查
7.2
被校逻辑分析仪应外观完好无影响正常工作的机械损伤供电电源标志明确并
,。,
设置正确应带有必要的附件
。。
被校逻辑分析仪通电后屏幕显示应正常所有开关按键和旋钮应安装牢固可靠
,、、
定位准确接触良好调节平滑通电后自检通过各种指示灯显示应正常
、、,,。
门限电平
7.3
设置逻辑分析仪的工作模式为定时分析采样模式为正常采样
7.3.1,。
按图连接仪器直流电压源输出连接到逻辑分析仪探头的数据通道输
7.3.22,10
入端
。
图门限电平校准连接图
2
设置所选逻辑分析仪探头的门限电平为电平
7.3.3“TTL”。
设置直流电压源的输出电压为所设置门限电平正向调整直流电压直至所测数
7.3.4,
据通道的指示为高电平将此时直流电压源的电平值记录在附录的中
,AA.1。
将直流电压源的输出电压恢复到逻辑分析仪所设置的门限电平值然后负向调
7.3.5,
整直流电压直至所测数据通道的指示为低电平并记录在附录的中
,AA.1。
按附录的设置逻辑分析仪探头门限电平重复步骤至
7.3.6AA.11,7.3.37.3.5,
测量探头所测通道的其他各门限电平
1。
3
JJF2274—2025
重复步骤至测量当前探头的其他通道
7.3.77.3.27.3.6。
关闭直流电压源输出断开电压源与所选逻辑分析仪探头的连接
7.3.8,。
更换探头分别把逻辑分析仪的其他探头的数据输入端连接到直流电压源的输
7.3.9,
出端重复步骤至测量逻辑分析仪的其他各探头
,7.3.27.3.7。
时间间隔测量
7.4
设置逻辑分析仪的工作模式为定时分析采样模式为正常采样
7.4.1,。
按图连接仪器
7.4.23。
图时间间隔校准连接图
3
设置脉冲信号发生器输出方波信号高电平低电平重复周期为逻
7.4.3,1.6V、0V,
辑分析仪最小脉冲宽度指标的倍
4。
选取探头的通道或其他任意探头的任意通道为被校数据通道
7.4.410()。
设置所选探头的通道门限电平为用户自定义电平值为脉冲信号发生器
7.4.50,1/2
高电平值
。
设置逻辑分析仪为最高采样率采样触发方式为上升沿触发触发位置为
7.4.6,,
采样深度为最大
100%,。
在逻辑分析仪上新建一个时间间隔测量任务为光标到光标
7.4.7,1(M1)2(M2)
的时间间隔值
。
设置逻辑分析仪光标为上升沿触发从触发位置开始判断条件为第
7.4.81(M1),,
个沿设置逻辑分析仪光标为上升沿触发从光标开始判断条件
1,2(M2),1(M1),
为第N个沿N或按说明书要求设置
(≥2)。
执行逻辑分析仪连续运行操作记录时间间隔测量值并把测量结果记录
7.4.9“”,,
到附录的中
AA.2。
最小脉冲宽度功能检查
7.5
设置逻辑分析仪的工作模式为定时分析采样模式为正常采样
7.5.1,。
按图连接仪器
7.5.24。
4
JJF2274—2025
图最小脉冲宽度和毛刺功能检查连接图
4
设置脉冲信号发生器输出为脉冲输出高电平低电平脉冲宽度为
7.5.3,1.6V、0V,
逻辑分析仪最小脉冲宽度的指标值重复周期为最小脉冲宽度的倍
,4。
选取探头的通道或其他任意通道为被检数据通道
7.5.410()。
设置所选探头的通道的门限电平为用户自定义电平值为脉冲信号发生
7.5.50,1/2
器高电平值
。
打开逻辑分析仪的波形界面把所选探头的通道添加到波形界
7.5.6(waveform),0
面的显示中
。
打开脉冲信号发生器输出逻辑分析仪执行连续运行操作开始采集数据
7.5.7,“”,,
在波形界面观察采集到的结果是否与脉冲信号发生器输出波形的逻辑关系一致把检查
,
结果记录在附录的中
AA.3。
逻辑分析仪执行停止操作关闭脉冲信号发生器输出断开逻辑分析仪所
7.5.8“”,,
选探头的通道与脉冲信号发生器的连接
0。
更换探头分别把逻辑分析仪的其他探头的通道或其他任意通道与脉冲
7.5.9,0()
信号发生器的输出连接重复步骤至
,7.5.57.5.8。
最小毛刺检测宽度功能检查
7.6
设置逻辑分析仪的工作模式为定时分析采样模式为毛刺采样
7.6.1,。
按图连接仪器
7.6.24。
设置脉冲信号发生器的脉冲输出高电平低电平脉冲宽度为逻辑分
7.6.31.6V、0V,
析仪毛刺检测宽度的指标值信号重复周期为毛刺检测宽度的倍
,2。
选取探头的通道或其他任意通道为被检数据通道
7.6.410()。
设置所选探头的门限电平为用户自定义电平值为脉冲信号发生器高电
7.6.5,1/2
平值
。
打开逻辑分析仪的波形界面把所选探头的通道添加到波形界
7.6.6(waveform),0
面的显示中
。
打开脉冲信号发生器输出执行逻辑分析仪的连续运行操作逻辑分析仪
7.6.7,“”,
开始采集数据在波形显示界面观察是否能够采集到波形把检查结果记录在附录
,,A
的中
A.4。
执行逻辑分析仪停止操作关闭脉冲信号发生器输出断开逻辑分析仪所
7.6.8“”,,
5
JJF2274—2025
选探头的通道与脉冲信号发生器的连接
0。
更换探头分别把逻辑分析仪的其他探头的通道或其他任意通道与脉冲
7.6.9,0()
信号发生器的输出连接重复步骤至
,7.6.57.6.8。
状态时钟最高速率功能检查
7.7
设置逻辑分析仪的工作模式为状态分析
7.7.1。
使用等长电缆按图连接仪器把脉冲信号发生器通道的输出与逻辑分析仪
7.7.25,1
探头的时钟输入连接把脉冲信号发生器通道的输出与探头通道的数据输入连
1,210
接并且把时钟输出与示波器的通道连接把数据输出与示波器的通道连接
,1,2。
图状态时钟最高速率功能检查连接图
5
设置脉冲信号发生器通道和通道均输出方波信号高电平低电平
7.7.312,1.6V、
重复频率为逻辑分析仪状态时钟最高速率f
0V,max。
选取探头的时钟为时钟通道探头的通道或其他任意通道为数据
7.7.41,10()
通道
。
设置所选探头的时钟为主时钟并选择上升沿触发关闭逻辑分析仪的其他时
7.7.5,,
钟设置所选探头的通道的门限电平为用户自定义电平值为脉冲信号发生器高
,0,1/2
电平值
。
打开脉冲信号发生器通道和通道的输出用示波器监测时钟和数据信号的
7.7.612,
幅度并调整脉冲信号发生器使其满足设定值监测时钟和数据两路信号的相对延时
,;,
并调整使得在示波器上测得两路信号上升沿对齐即设置数据建立时间为保持时
,0ns,
间为Tf如图所示
1=1/(2max),6
定制服务
推荐标准
- GB/T 10322.4-2000 铁矿石 校核取样偏差的实验方法 2000-06-05
- GB/T 13560-2000 烧结钕铁硼永磁材料 2000-06-05
- GB/T 12690.28-2000 稀土金属及其氧化物化学分析方法 电感耦合等离子体发射光谱法测定稀土氧化物中氧化钙量 2000-06-05
- GB/T 18113-2000 铬酸镧高温电热元件 2000-06-05
- GB/T 18114.1-2000 独居石精矿化学分析方法 稀土和钍氧化物总量的测定 2000-06-05
- GB/T 10322.5-2000 铁矿石 交货批水分含量的测定 2000-06-05
- GB/T 18114.2-2000 独居石精矿化学分析方法 氧化钍量的测定 2000-06-05
- GB/T 12690.29-2000 稀土金属及其氧化物化学分析方法 荧光光度法测定稀土氧化物中氧化铈量 2000-06-05
- GB/T 18114.10-2000 独居石精矿化学分析方法 水分的测定 2000-06-05
- GB/T 18114.3-2000 独居石精矿化学分析方法 氧化钙量的测定 2000-06-05