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SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程

SJ 20233-1993 Verification regulation of model IMPACT-Ⅱ semiconductor discrete device test system

行业标准-电子 中文(简体) 现行 页数：29页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ 20233-1993
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1993-02-09
实施日期
1993-05-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-

发布历史

文前页预览

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SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程-第2页
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SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程-第8页

研制信息

起草单位：
机电部第五研究所
起草人：
梁琼崇
出版信息：
页数：29页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

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