SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
SJ 20233-1993 Verification regulation of model IMPACT-Ⅱ semiconductor discrete device test system
行业标准-电子
中文(简体)
现行
页数:29页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
SJ 20233-1993
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
-
国际标准分类号(ICS)
-
发布日期
1993-02-09
实施日期
1993-05-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1993年02月
研制信息
- 起草单位:
- 机电部第五研究所
- 起草人:
- 梁琼崇
- 出版信息:
- 页数:29页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CKFS 2202-2022 地理标志产品 城口板栗 2022-06-30
- T/ZJSF 003.4-2023 观赏乔木拼栽丛生苗培育技术规程 第4部分:三角枫 2023-12-29
- T/CSCMA 0007-2023 出口二手汽车起重机质量与价值评估 1970-01-01
- T/LCX 007-2019 酒米饭工艺技术规范 2019-12-15
- T/SSAE 30-2023 汽车材料中多环芳烃含量测定 2023-08-30
- T/GZTPA 0009-2021 贵州茶叶中风味挥发性物质的测定 气相色谱质谱法 2021-11-25
- T/WSHDZXCYLHH 001-2022 微山湖大闸蟹产业 联合会团体标准 2023-03-30
- T/NAIA 090-2021 检验检测报告编制规则 2021-11-29
- T/SXDZXH 003-2021 代理记账小企业会计服务规范 2021-10-09
- T/HDYTA 001-2023 游艇交易鉴证服务规范 2023-05-15