SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
SJ 20233-1993 Verification regulation of model IMPACT-Ⅱ semiconductor discrete device test system
行业标准-电子
中文(简体)
现行
页数:29页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
SJ 20233-1993
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
-
国际标准分类号(ICS)
-
发布日期
1993-02-09
实施日期
1993-05-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1993年02月
研制信息
- 起草单位:
- 机电部第五研究所
- 起草人:
- 梁琼崇
- 出版信息:
- 页数:29页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/GDEIIA 09-2022 云链互通综合服务平台技术规范 第二部分:基础共性规范 2022-12-14
- T/QGCML 1073-2023 智能记账服务系统 2023-07-21
- T/GSIA 002-2023 工业互联网电力装备标识数据安全保护规范 2023-04-11
- T/QBDA 3301-2023 数据资产价值与收益分配评价模型 2023-04-28
- T/NDAS 79-2023 智能家居控制系统设计规范 2023-09-26
- T/CESA 1142-2021 电子凭据 元数据 2021-04-26
- T/SHDSGY 093-2023 智能花园系统 2023-04-27
- T/CASME 914-2023 城市信息模型市政管廊设计应用规范 2023-11-17
- T/JLS 0009-2021 电商直播团队岗位要求 2021-11-25
- T/BITS 0019-2023 “摇摇棒棒糖”具有行人手机APP端过街请求功能的通行保障系统 2023-06-20