GB/T 34190-2017 电工钢表面涂层的重量(厚度) X射线光谱测试方法

GB/T 34190-2017 Surface coating weight(thickness) of electrical steel—X-ray spectrometric method

国家标准 中文简体 现行 页数:10页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 34190-2017
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2017-09-07
实施日期
2018-06-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国钢标准化技术委员会(SAC/TC 183)
适用范围
本标准规定了利用X射线光谱法测试电工钢表面涂层重量(厚度)的方法。本方法用于室温下测量试样单位面积上的涂层重量,其测量结果也可以用涂层厚度表示。本标准适用于表面涂层中含有稳定的、不受干扰的、X射线荧光强度较大的特性元素的电工钢,给定涂层材料的测量范围主要取决于可获得的特征X射线荧光强度和可接受的测量不确定度,并且因所使用的仪器设备和测量方式而不同。

发布历史

研制信息

起草单位:
武汉钢铁股份有限公司、宝山钢铁股份有限公司、首钢总公司、冶金工业信息标准研究院
起草人:
向前、华犇、黄双、石建锐、王玉婕、张俊鹏、范纯、龚坚、刘宝石、刘集中、周星
出版信息:
页数:10页 | 字数:18 千字 | 开本: 大16开

内容描述

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中华人民共和国国家标准

GB/T34190—2017

电工钢表面涂层的重量(厚度)

X射线光谱测试方法

Surfacecoatingweight(thickness)ofelectricalsteel—

X-rayspectrometricmetho

2017-09-07发布2018-06-01实施

发布

GB/T34190—2017

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本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。

本标准由中国钢铁工业协会提出。

本标准由全国钢标准化技术委员会(SAC/TC183)归口。

本标准起草单位:武汉钢铁股份有限公司、宝山钢铁股份有限公司、首钢总公司、冶金工业信息标准

研究院。

本标准主要起草人:向前、华辉、黄双、石建锐、王玉婕、张俊鹏、范纯、龚坚、刘宝石、刘集中、周星。

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GB/T34190—2017

电工钢表面涂层的重量(厚度)

X射线光谱测试方法

1范围

本标准规定了利用x射线光谱法测试电工钢表面涂层重量(厚度)的方法。

本方法用于室温下测量试样单位面积上的涂层重量,其测量结果也可以用涂层厚度表示。

本标准适用于表面涂层中含有稳定的、不受干扰的、x射线荧光强度较大的特性元素的电丁钢,给

定涂层材料的测量范围主要取决于可获得的特征X射线荧光强度和可接受的测量不确定度,并且因所

使用的仪器设备和测量方式而不同。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文

件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

GB/T16921金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法

3术语和定义

GB/T16921界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

基体substrate

在其表面涂覆涂层的材料。

3.2

表面涂层surfacecoating

涂覆在电工钢基体上主要起绝缘保护功能的材料,例如铅酸盐或磷酸盐等无机或半有机涂层材料。

3.3

中间涂层intermediatecoating

涂覆在电工钢基体和表面涂层间,有一定厚度(小于饱和厚度)、起一定作用的功能材料。

若用散射法对表面涂层进行分析测试,只要中间涂层不影响测量结果,中间涂层可视为基体的一

部分。

4原理

单位面积涂层重量(若涂层密度已知,也可以是涂层厚度)与荧光强度间存在一定关系。对任何测

量设备而言,这种关系首先需要用已知单位面积涂层重量的标准样品建立校准曲线。若涂层密度已给

定或实际密度已知,该标样的涂层重量可用涂层厚度对应表示。

注1:涂层密度是指涂液在钢板匕固化后的密度,可能与测量时涂层的理论密度不一致。若密度与测量标准曲线

采用的密度不一样,需要在测试报告中用因子来体现差异并注明。

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GB/T34190—2017

荧光强度与元素原子序数有关。涂层与基体中可能含有多种元素,每个元素均会产生特征谱线。

因此,需要调整合适的探测系统,选择一个或多个能带,以便设备能够同时测量涂层厚度和组分。

注2:取向电T•钢表面涂层重量测量可采用涂层中的Cr-Ka射线,无取向电工钢表面涂层重量测量可采用涂层中

的Cr-Ka或P-Ka等射线。

5测量方法

5.1X射线激发

5.1.1通则

利用X射线荧光光谱法测试涂层重量(厚度)主要基于用初级X射线照射涂层或基体作用而产生

高强度的X射线荧光。这种作用产生了体现涂层

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