T/BEA 40005-2024 GAM500气体分析仪校准规范

T/BEA 40005-2024 GAM500 gas analysis instrument calibration specification

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基本信息

标准号
T/BEA 40005-2024
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
-
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2024-09-20
实施日期
2024-10-31
发布单位/组织
-
归口单位
北京电子仪器行业协会
适用范围
主要技术内容:4  概述4.1  原理GAM500气体分析仪的工作原理是:通过进样系统将待校准气体引入质谱分析室中,质谱仪将待测气体离子化,按离子的质荷比进行分离,通过检测各离子的丰度(即质谱峰强度)可实现物质分析。4.2  构造GAM500 气体分析仪由质谱分析系统、循环取样系统、冷却系统、驱动气系统等组成。质谱分析系统主要由四极质谱计及真空系统组成,可对多种示漏介质进行分析检测;循环取样系统主要由显示单元、比较气室和循环泵等组成,可控制并显示测试过程并将收集室、比较气室的气体送入质谱分析系统进行分析;冷却系统为质谱分析系统的分子泵提供循环冷却水;驱动气系统为质谱分析系统的各气动阀门进行供气。GAM500气体分析仪原理图见图1。图1  GAM500气体分析仪原理图4.3  用途GAM500 气体分析仪可在大气环境下对充入 He、Kr 或 CF4 等不同示漏气体的多个密封系统同时进行总漏率测试。5  计量特性最小可检漏率6  校准条件6.1  环境条件a)环境温度:23℃±5℃;b)相对湿度:≤80%;c)周围无影响正常校准的电磁干扰,无剧烈振动。6.2  校准用气体纯度不低于99.9%、临界温度不高于0℃、无毒、无腐蚀性、非易燃气体。6.3  校准用设备校准所用仪器设备应经过计量技术机构校准,并在有效期内。校准用仪器设备及性能要求见表1。表1 校准用仪器设备及性能要求序号仪器设备名称技术要求1电容薄膜真空计测量范围:100kPa~100Pa,最大允许误差:±1.5%;测量范围:100~0.01Pa,最大允许误差:±2%。;2小孔流导元件测量范围:(1×10-2~1×10-8)m3/s最大允许误差:±10%7  校准项目最小可检漏率。8  校准方法8.1  校准原理GAM500气体分析仪采用气体微流量计校准,气体微流量计的气体流量采用固定流导法测量,其计算公式为:?Q  = pC                                      (1)式中:Q——标准气体微流量,Pa?m3/s;p——小孔流导元件的入口压力,Pa;C——小孔流导元件的流导值,m3/s。将气体微流量计提供的已知流量的示漏气体引入到GAM500气体分析仪中,通过比较标准流量值与其在GAM500气体分析仪上对应的示值实现校准。GAM500气体分析仪的校准原理图见图

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研制信息

起草单位:
北京东方计量测试研究所
起草人:
柏向春、余荣、王欢、杨振、杨阳、眭瑞涛、刘迪、杨廷凯、朱振良
出版信息:
页数:- | 字数:- | 开本: -

内容描述

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