T/ZZB 2820-2022 数显卡尺

ICS17.040.30

CCSJ42

团体标准

T/ZZB2820—2022

数显卡尺

Digitaldisplaycalipers

2022-12-08发布2022-12-31实施

浙江省品牌建设联合会发布

T/ZZB2820—2022

目次

前言................................................................................II

1范围..............................................................................1

2规范性引用文件....................................................................1

3术语和定义........................................................................1

4形式与基本参数....................................................................1

5基本要求..........................................................................1

6技术要求..........................................................................2

7试验方法..........................................................................5

8检验规则..........................................................................7

9标志、包装、运输、贮存............................................................8

10质量承诺.........................................................................8

I

T/ZZB2820—2022

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规则

起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本文件由浙江省品牌建设联合会提出并归口管理。

本文件由浙江省标准化研究院牵头组织制定。

本文件主要起草单位：杭州工具量具有限公司。

本文件参与起草单位：德清量丰电子科技股份有限公司、浙江省产品质量安全科学研究院。

本文件主要起草人：韩芬英、吴鹏、朱东锋、黄海东、王国芬、裴建忠、华强、卫庆永、马学富、

郭春裕。

本文件评审专家组长：刘浩。

本文件由浙江省标准化研究院负责解释。

II

T/ZZB2820—2022

数显卡尺

1范围

本文件规定了数显卡尺的术语和定义、形式与基本参数、基本要求、技术要求、试验方法、检验规

则、标志、包装、运输、贮存和质量承诺。

本文件适用于分度值/分辨力为0.01mm、0.02mm，测量范围为（0～70）mm至（0～1000）mm的数

显卡尺（以下简称“卡尺”）。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T2423.1—2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

GB/T2423.2—2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

GB/T2423.3—2016环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

GB/T3280—2015不锈钢冷轧钢板和钢带

GB/T4208—2017外壳防护等级（IP代码）

GB/T17163几何量测量器具术语基本术语

GB/T17164几何量测量器具术语产品术语

GB/T17626.2—2018电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验

GB/T17626.3—2016电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验

GB/T21389—2008游标、带表和数显卡尺

3术语和定义

GB/T17163、GB/T17164、GB/T21389—2008中界定的术语和定义适用于本文件。

4形式与基本参数

形式与基本参数应符合GB/T21389—2008中4.1、4.2、4.3.1、4.3.2、4.3.3、4.3.4以及4.3.5中

测量范围为（0～70）mm至（0～1000）mm的相关规定。

5基本要求

5.1设计研发

应采用三维计算机辅助设计软件对产品进行外形结构设计以及尺身和尺框的间隙配合设计。

1

T/ZZB2820—2022

5.2原材料与零部件

5.2.1尺身和尺框应采用力学性能不低于GB/T3280—2015中30Cr13的不锈钢材料。

5.2.2容栅传感器的测量分辨率不应低于0.01mm，测量精度不应低于±0.02mm。

5.3工艺与装备

5.3.1应采用线切割工艺、磨削工艺和激光打标工艺。

5.3.2应具备线切割机、数控磨床和激光打标机。

5.4检验检测

5.4.1应具备对成品的测量面硬度、表面粗糙度、外测量面的平面度、平行度及合并间隙、最大允许

误差、重复性项目的检测能力。

5.4.2应配备硬度计、粗糙度仪、外径千分尺等检测设备。

6技术要求

6.1外观

6.1.1卡尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。

6.1.2标尺标记不应有目力可见的断线、粗细不均及影响读数的其他缺陷。

6.1.3指示装置的显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等缺陷。

6.2相互作用

卡尺的相互作用应符合GB/T21389—2008中5.2的规定。

6.3测量爪伸出长度差

卡尺测量爪伸出长度差应符合GB/T21389—2008中5.3的规定。

6.4测量面硬度

卡尺测量面硬度不应低于表1的规定。

表1测量面硬度

测量面名称硬度

内、外测量面

551HV(或52.5HRC)

其他测量面

6.5测量面的表面粗糙度

卡尺测量面的表面粗糙度应符合GB/T21389—2008中5.5的规定。

6.6外测量面的平面度、平行度及合并间隙

6.6.1卡尺两外测量面的平面度不应大于表2的规定；两外