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T/CIET 820-2024 高精度微纳位移传感器技术要求

T/CIET 820-2024 High-precision micro-nano displacement sensor technical requirements

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/CIET 820-2024
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
17.040.30 测量仪器仪表
发布日期
2024-11-27
实施日期
2024-11-27
发布单位/组织
-
归口单位
中国国际经济技术合作促进会
适用范围
范围:本文件规定了高精度微纳位移传感器的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存。 本文件适用于基于纳米时栅和电容式测量原理的高精度微纳位移传感器; 主要技术内容:本文件规定了高精度微纳位移传感器的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存。本文件适用于基于纳米时栅和电容式测量原理的高精度微纳位移传感器

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研制信息

起草单位：
通用技术集团国测时栅科技有限公司、中航星（西安）智能系统有限公司、哈尔滨芯明天科技有限公司、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所、大连理工大学盘锦产业技术研究院、南京纳璇宇计量科技有限公司、通标中研标准化技术研究院（北京）有限公司、途邦认证有限公司
起草人：
彭凯、赵凯瑞、陈峰、樊星辰、刘忠建、杨明远、李韶璇、李新华、贾志博、李元、于治成、闫更辉、刘岩、吴永利、汪贤峰、关杨杰、徐敬铭、包瑾、刘旭彤、吕常松
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

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