T/CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析(FMMEA)通用方法和程序

ICS31.080

CCSL04

团体标准

/—

TCIE1152021

、

电子元器件失效机理模式及

影响分析()通用方法和程序

FMMEA

Generalmethodandrocedureoffailuremechanism,

p

()

modeandeffectsanalsisFMMEAforelectroniccomonents

yp

2021-11-22发布2022-02-01实施

中国电子学会发布

中国标准出版社出版

/—

TCIE1152021

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4一般要求…………………2

4.1总则…………………2

4.2FMMEA计划………………………2

4.3一般分析程序………………………3

5详细要求…………………3

5.1准备工作……………3

5.2层次约定及单元划分………………3

5.3制定编码体系………………………4

5.4失效机理和失效模式确定…………4

5.5失效影响分析………………………4

5.6危害性分析…………………………5

5.7失效机理应力分析及失效物理模型………………6

5.8失效原因分析………………………6

5.9改进措施……………7

()……

附录资料性功率晶体管层次约定和单元划分示例

AFMMEA8

()……………………

附录资料性功率晶体管表格示例

BFMMEA12

Ⅰ

/—

TCIE1152021

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.120201

起草。

。。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

本文件由中国电子学会可靠性分会提出并归口。

:、、

本文件起草单位工业和信息化部电子第五研究所中国电子科技集团公司第五十五研究所电子

科技大学。

:、、、、、、、、。

本文件主要起草人来萍陈媛何小琦路国光黄云恩云飞林罡黄洪钟米金华

Ⅲ

/—

TCIE1152021

引言

,(),

目前国内外有关失效模式及影响分析FMEA的标准都是针对系统和整机的其中我国目前采用

,/《()》

的两个主要标准中系统可靠性分析技术失效模式和效应分析程序主要针对

GBT7826FMEA

,/《、》、、

电子设备等系统国军标GJBZ1391故障模式影响及危害性分析指南主要针对军用航空航天等

。,

装备系统本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析是对系统及整机级的FMEA标准的有效补

,、,

充可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理模式及原因并预先采

;、。

取有效的预防措施支撑元器件的可靠性设计生产工艺控制以及整机用户的可靠性应用

。

元器件FMEA的核心是在失效模式影响分析的基础上引入了失效机理的影响分析对元器件来

,,。,

说最低层次的分析是失效机理及其影响的分析这也是不同于系统的主要方面因此元器件的

、()。

FMEA又叫做失效机理模式及影响分析FMMEA

Ⅳ

/—

TCIE1152021

、

电子元器件失效机理模式及

影响分析()通用方法和程序

FMMEA

1范围

、()。

本文件确立了对电子元器件进行失效机理模式及其影响分析FMMEA的通用方法和程序

本文件适用于电子元器件的风险等级分析。

2规范性引用文件

。,

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

,;,()

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

本文件。

/电工术语可信性

GBT2900.99

/系统可靠性分析技术失效模式和影响分析()程序

GBT7826FMEA

GJB451可靠性维修性保障性术语

/、

GJBZ1391故障模式影响及危害性分析指南

3术语和定义

、/、/和/界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

GJB451GBT2900.99GJBZ1391GBT7826

3.1

电子元器件electroniccomonent

p

、、、。

在电子线路或电子设备中执行电气电子电磁机电和光电功能的基本单元

:,。

注该基本单元可由多个零件组成通常不破坏是不能将其分解的

3.2

失效影响failureeffect

()、、

某层次单元的失效机理或模式对本层次单元或对较高层次单元或对最终产品即电子元器件本

、。

身的运行功能和状态产生的后果

:,,

注失效影响分为局部影响和最终影响对本层次或相邻较高层次单元的影响叫局部影响对最终产品即电子元器

件本身的影响叫最终影响。

3.3

、,;

失效机理模式及其影响分析failuremechanismmodeandeffectsanalsisFMMEA

y

、。

对电子元器件本身及各层次单元的潜在失效机理失效模式及其影响进行分析的一种方法

3.4

风险等级riskclass

确定失效影响危害度的一种表征方法。

:,。

注是对失效影响严重程度及失效发生概率的综合度量用等级来表征

3.5

严酷度severit

y

失效影响的严重程度。

:。

注用等级来表征

1